[发明专利]用于电流节省和快速编程的适应性选择性位线预充电

权利要求书

1.一种存储器装置，包括：

存储器单元；

感测电路，其经由位线连接到所述存储器单元；

控制电路，所述控制电路被配置为在编程操作期间执行用于所述存储器单元的编程操作以将所述存储器单元编程到目标数据状态和使用所述感测电路选择性地测试所述存储器单元，所述选择性地测试包括充电位线；以及

处理器，其连接到所述感测电路，所述处理器被配置为确定所述目标数据状态匹配一组预定数据状态中的一个数据状态，并且作为对所述确定的响应，使所述感测电路执行相对于所述组预定数据状态中的每个数据状态的所述存储器单元的选择性测试、以及使所述感测电路在相对于不在所述组预定数据状态中的数据状态的另一存储器单元的选择性测试期间不充电位线。

2.如权利要求1所述的装置，其中：

选择性地测试所述存储器单元的所述控制电路被配置为施加一组验证信号到所述存储器单元；并且所述组验证信号包括对于所述组预定数据状态中的每个数据状态的不同电平。

3.如权利要求2所述的装置，其中：

所述组验证信号包括用于相对于至少一个附加的数据状态测试存储器单元的至少一个附加的电平；并且所述存储器单元不会相对于所述至少一个附加的数据状态被测试。

4.如权利要求2所述的装置，其中：

执行所述存储器单元的选择性测试的所述感测电路被配置为在所述组验证信号的不同电平中的每一个的期间确定所述存储器单元是否处于导电状态。

5.如权利要求1所述的装置，其中：

所述处理器被配置为在相对于所述组预定数据状态中的每个数据状态的所述存储器单元的选择性测试期间激活所述感测电路、以及在相对于附加的数据状态的附加的存储器单元的测试期间不激活所述感测电路。

6.如权利要求5所述的装置，其中：

所述存储器单元被连接到公共的字线。

7.如权利要求1所述的装置，其中：

所述处理器被配置为丢弃来自相对于所述组预定数据状态中与所述存储器单元的目标数据状态不匹配的一个或多个数据状态的所述存储器单元的选择性测试的感测结果，并且被配置为向管理电路传送来自相对于所述组预定数据状态中与所述存储器单元的目标数据状态匹配的数据状态的所述存储器单元的选择性测试的感测结果。

8.如权利要求1所述的装置，其中：

所述感测电路被配置为在相对于所述组预定数据状态中的每个数据状态的所述存储器单元的选择性测试期间确定所述存储器单元是否处于导电状态。

9.如权利要求1所述的装置，其中：

所述组预定数据状态在所述编程操作的不同的编程阶段期间包括不同的数据状态。

10.如权利要求1所述的装置，其中：

所述组预定数据状态在所述编程操作的不同的编程阶段期间包括不同数量的数据状态。

11.如权利要求1所述的装置，还包括：

与所述感测电路相关联的锁存器，其中所述处理器被配置为读取所述锁存器以确定所述目标数据状态。