[发明专利]线位移评价方法、线位移评价装置以及记录介质

权利要求书

1.一种线位移评价方法，是对成型出特征线的冲压成型中冲压成型品所产生的线位移进行评价的方法，其特征在于，具有如下步骤：

截面轮廓取得步骤，取得以横割上述冲压成型品所成型出的上述特征线的方式测量出的上述冲压成型品的截面轮廓；

四阶微分系数计算步骤，对取得的上述截面轮廓的四阶微分系数进行计算；以及

线位移评价步骤，基于计算出的上述截面轮廓的四阶微分系数，对上述线位移进行评价。

2.如权利要求1所述的线位移评价方法，其特征在于，

在上述线位移评价步骤中，

求出夹着上述特征线且产生上述线位移一侧的上述截面轮廓的四阶微分系数的峰值H、以及上述峰值H出现的位置与产生上述线位移一侧的设计特征线的曲线停止点的位置之间的位移宽度L，

使用上述峰值H和上述位移宽度L，对上述线位移进行评价。

3.如权利要求2所述的线位移评价方法，其特征在于，

在上述线位移评价步骤中，利用下面式子(1)，计算出第一线位移评价参数S，使用计算出的上述第一线位移评价参数S对上述线位移进行评价，

S＝L×│H│ⁿ···(1)

其中，n是预先决定的加权指数。

4.如权利要求2所述的线位移评价方法，其特征在于，

在上述线位移评价步骤中，进一步求出上述特征线的曲线半径R，使用上述峰值H、上述位移宽度L、以及上述曲线半径R对上述线位移进行评价。

5.如权利要求4所述的线位移评价方法，其特征在于，

在上述线位移评价步骤中，利用下面式子(2)，计算出第二线位移评价参数S_II，使用计算出的上述第二线位移评价参数S_II对上述线位移进行评价，

S_II＝L×(│H│/R)^m···(2)

其中，m是预先决定的加权系数。

6.一种线位移评价装置，是对成型出特征线的冲压成型中冲压成型品所产生的线位移进行评价的装置，其特征在于，具备：

截面轮廓取得部，取得以横割上述冲压成型品所成型出的上述特征线的方式测量出的上述冲压成型品的截面轮廓；

四阶微分系数计算部，计算出由上述截面轮廓取得部取得的上述截面轮廓的四阶微分系数；以及

线位移评价参数计算部，基于由上述四阶微分系数计算部计算出的上述截面轮廓的四阶微分系数，计算出用于对上述线位移进行评价的线位移评价参数。

7.如权利要求6所述的线位移评价装置，其特征在于，

还具备线位移评价部，基于由上述线位移评价参数计算部计算出的线位移评价参数，对上述线位移进行评价。

8.如权利要求6或7所述的线位移评价装置，其特征在于，

上述评价参数计算部求出夹着上述特征线且产生上述线位移一侧的上述截面轮廓的四阶微分系数的峰值H、以及上述峰值H出现的位置与产生上述线位移一侧的设计特征线的曲线停止点的位置之间的位移宽度L，使用上述峰值H和上述位移宽度L，计算出上述线位移评价参数。

9.如权利要求8所述的线位移评价装置，其特征在于，

上述评价参数计算部利用下面式子(1)，计算出线位移评价参数S

S＝L×│H│ⁿ···(1)

其中，n是预先决定的加权指数。

10.如权利要求8所述的线位移评价装置，其特征在于，

上述评价参数计算部进一步求出上述特征线的曲线半径R，使用上述峰值H、上述位移宽度L、以及上述曲线半径R，计算出上述线位移评价参数。