[发明专利]数据处理装置、求取各像素的特性的方法以及数据处理的方法及程序

权利要求书

1.一种数据处理装置，对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正，该数据处理装置的特征在于，具备：

特性存储部，存储在事先准备时的测定条件下完成的一致扩散后的X射线照射的结果所得到的特定的检测器的各像素的特性；

校正表格生成部，将作为利用上述特定的检测器进行测定时的期望的测定条件来输入的测定条件以及表示上述各像素的特性的值应用于表示上述各像素处的计数值的近似表达式，使用上述近似表达式的计算结果，生成所输入的上述测定条件下的针对上述特定的检测器的校正表格；和

校正部，使用所生成的上述校正表格，对由上述特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正，

上述近似表达式在因子中包含测定时的X射线源的信息，

上述校正表格生成部通过使上述近似表达式的计算结果拟合所测定到的上述X射线强度数据来生成上述测定条件下的针对上述特定的检测器的校正表格。

2.根据权利要求1所述的数据处理装置，其特征在于，

上述校正表格生成部使用将表示原本的X射线照射下的计数量的数学表达式和表示电荷共享作用下的计数量的数学表达式相加后得到的数学表达式，作为表示上述各像素处的计数值的近似表达式。

3.根据权利要求2所述的数据处理装置，其特征在于，

上述校正表格生成部使用将表示噪声影响下的计数量的数学表达式和表示噪声以外影响下的计数量的数学表达式相加后得到的数学表达式，作为表示上述原本的X射线照射下的计数量的近似表达式。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的数据处理装置，其特征在于，

上述校正表格生成部对各像素使用表示上述各像素处的计数值的近似表达式的计算结果来算出用于一致性校正或者失真校正的校正系数。

5.根据权利要求1～3中任一项所述的数据处理装置，其特征在于，

上述校正表格生成部使用表示上述各像素处的计数值的近似表达式的计算结果以及计数值的阈值来确定不良像素，算出用于弥补上述不良像素的校正系数。

6.根据权利要求1～3中任一项所述的数据处理装置，其特征在于，

所输入的测定时的上述测定条件中包含测定装置周边的温度。

7.根据权利要求1～3中任一项所述的数据处理装置，其特征在于，

所输入的测定时的上述测定条件中包含在测定中使用的X射线的射线源的种类。

8.一种求取权利要求1～3中任一项所述的数据处理装置中存储的上述各像素的特性的方法，其特征在于，包括以下步骤：

改变特定的测定条件对上述特定的检测器一致照射X射线，记录各像素的检测值的步骤；和

根据所记录的各像素的上述检测值，算出各像素的特性的步骤。

9.一种对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理的方法，其特征在于，包括以下步骤：

将作为利用特定的检测器进行测定时的期望的测定条件来输入的测定条件、以及在事先准备时的测定条件下完成的一致扩散后的X射线照射的结果所得到的预先存储的表示特定的检测器的各像素的特性的值应用于表示上述各像素处的计数值的近似表达式，使用表示上述各像素处的计数值的近似表达式的计算结果，生成所输入的上述测定条件下的针对上述特定的检测器的校正表格的步骤；和

使用所生成的上述校正表格，对由上述特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的步骤，

上述近似表达式在因子中包含测定时的X射线源的信息，

在生成上述校正表格的步骤中，通过使上述近似表达式的计算结果拟合所测定到的上述X射线强度数据来生成上述测定条件下的针对上述特定的检测器的校正表格。