[发明专利]用于测量离型膜的剥离稳定性的方法和离型膜层合体

权利要求书

1.一种用于测量离型膜的剥离稳定性的方法，所述方法包括以下步骤：

制备包括粘合层和附接在所述粘合层的两侧的轻剥离离型膜和中剥离离型膜的层合体；

通过在0.3m/分钟至3.0m/分钟的剥离速度下测量所述轻剥离离型膜与所述粘合层的离型强度来获得轻剥离、低速离型强度；

通过在0.3m/分钟至3.0m/分钟的剥离速度下测量所述中剥离离型膜与所述粘合层的离型强度来获得中剥离、低速离型强度；

通过在10m/分钟至30m/分钟的剥离速度下测量所述轻剥离离型膜与所述粘合层的离型强度来获得轻剥离、高速离型强度；

通过在10m/分钟至30m/分钟的剥离速度下测量所述中剥离离型膜与所述粘合层的离型强度来获得中剥离、高速离型强度；以及

在以下通式1和2的基础上测量高速离型强度平衡和低速离型强度平衡；

通过使用所述轻剥离、高速离型强度和所述轻剥离、低速离型强度在以下通式3的基础上测量轻剥离速度变化率；以及

通过使用所述中剥离、高速离型强度和所述中剥离、低速离型强度在以下通式4的基础上测量中剥离速度变化率，

其中通过所述用于测量离型膜的剥离稳定性的方法所测量的高速离型强度平衡为1.5至3.0，低速离型强度平衡为1.5至2.5，

其中所述轻剥离离型膜的轻剥离速度变化率为100％至300％，并且

所述中剥离离型膜的中剥离速度变化率为200％至400％，

[通式1]

高速离型强度平衡＝中剥离、高速离型强度/轻剥离、高速离型强度

[通式2]

低速离型强度平衡＝中剥离、低速离型强度/轻剥离、低速离型强度

[通式3]

轻剥离速度变化率(％)＝(轻剥离、高速离型强度-轻剥离、低速离型强度)/轻剥离、低速离型强度×100

[通式4]

中剥离速度变化率(％)＝(中剥离、高速离型强度-中剥离、低速离型强度)/中剥离、低速离型强度×100，

其中所述轻剥离离型膜的轻剥离、低速离型强度为10gf/50mm至50gf/50mm；

其中所述中剥离离型膜的中剥离、低速离型强度为50gf/50mm至200gf/50mm；

其中所述轻剥离离型膜的轻剥离、高速离型强度为10gf/50mm至100gf/50mm；并且

其中所述中剥离离型膜的中剥离、高速离型强度为50gf/50mm至200gf/50mm。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述层合体的制备包括使所述层合体在20℃至100℃下储存0.5小时至720小时的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述轻剥离离型膜和所述中剥离离型膜各自包括离型层和基底层的层合结构。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述离型层包含选自以下的至少一种：基于硅氧烷的离型剂、基于三聚氰胺的离型剂、基于聚烯烃的离型剂、基于环氧树脂的离型剂、丙烯酸类离型剂、基于氟的离型剂、基于纤维素的离型剂、基于石蜡的离型剂、基于环氧树脂-三聚氰胺的离型剂及其组合。

5.根据权利要求3所述的方法，其中所述基底层包含选自以下的至少一种：聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚乙烯、聚乙烯醇及其组合。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述粘合层包含选自以下的至少一种：丙烯酸类粘合剂、基于硅氧烷的粘合剂、基于橡胶的粘合剂及其组合。