[发明专利]用于测量离型膜的剥离稳定性的方法和离型膜层合体

说明书

提供了用于测量离型膜的剥离稳定性的方法，所述方法包括以下步骤：制备包括粘合层和附接在粘合层的两侧的轻剥离离型膜和中剥离离型膜的层合体；通过在0.3至3.0m/分钟的剥离速度下测量轻剥离离型膜与粘合层的离型强度获得轻剥离、低速离型强度；通过在0.3至3.0m/分钟的剥离速度下测量中剥离离型膜与粘合层的离型强度获得中剥离、低速离型强度；通过在10至30m/分钟的剥离速度下测量轻剥离离型膜与粘合层的离型强度获得轻剥离、高速离型强度；通过在10至30m/分钟的剥离速度下测量中剥离离型膜与粘合层的离型强度获得中剥离、高速离型强度；以及在通式1和2的基础上测量高速离型强度平衡和低速离型强度平衡。

技术领域

本发明涉及用于测量离型膜的剥离稳定性的方法和离型膜层合体。

背景技术

离型膜是有利于产品的处理和运输且可被容易地分离的膜，并且其已经用于多种用途。例如，离型膜可用作粘合膜用载体膜。在这种情况下，当使用多个离型膜时，根据各离型强度的差异，可能发生粘合剂被提起的现象或者出现粘合剂转移到离型膜上的问题。因此，需要用于选择具有剥离稳定性的离型膜的验证方法，其中由于多个离型膜之间的离型强度得以平衡，因此不会发生作为粘合膜用载体的粘合剂被提起的现象。

发明内容

技术问题

本发明的一个示例性实施方案提供了具有高可靠性和准确性的用于测量离型膜的剥离稳定性的方法。

本发明的另一示例性实施方案提供了包括具有优异剥离稳定性的离型膜的层合体，所述剥离稳定性通过用于测量离型膜的剥离稳定性的方法来测量。

技术方案

本发明的一个示例性实施方案提供了用于测量离型膜的剥离稳定性的方法，所述方法包括以下步骤：制备包括粘合层和附接在所述粘合层的两侧的轻剥离离型膜和中剥离离型膜的层合体；通过在约0.3m/分钟至约3.0m/分钟的剥离速度下测量所述轻剥离离型膜与所述粘合层的离型强度而获得轻剥离、低速离型强度；通过在约0.3m/分钟至约3.0m/分钟的剥离速度下测量所述中剥离离型膜与所述粘合层的离型强度而获得中剥离、低速离型强度；通过在约10m/分钟至约30m/分钟的剥离速度下测量所述轻剥离离型膜与所述粘合层的离型强度而获得轻剥离、高速离型强度；通过在约10m/分钟至约30m/分钟的剥离速度下测量所述中剥离离型膜与所述粘合层的离型强度而获得中剥离、高速离型强度；以及在以下通式1和2的基础上测量高速离型强度平衡和低速离型强度平衡。

[通式1]

高速离型强度平衡＝中剥离、高速离型强度/轻剥离、高速离型强度

[通式2]

低速离型强度平衡＝中剥离、低速离型强度/轻剥离、低速离型强度

用于测量离型膜的剥离稳定性的方法还可包括以下步骤：通过使用轻剥离、高速离型强度和轻剥离、低速离型强度在以下通式3的基础上测量轻剥离速度变化率；以及通过使用中剥离、高速离型强度和中剥离、低速离型强度在以下通式4的基础上测量中剥离速度变化率。

[通式3]

轻剥离速度变化率(％)＝(轻剥离、高速离型强度-轻剥离、低速离型强度)/轻剥离、低速离型强度×100

[通式4]

中剥离速度变化率(％)＝(中剥离、高速离型强度-中剥离、低速离型强度)/中剥离、低速离型强度×100

层合体的制备可包括将所述层合体在约20℃至约100℃下储存约0.5小时至约720小时的步骤。

轻剥离离型膜和中剥离离型膜可各自包括离型层和基底层的层合结构。