[发明专利]多芯片模块及其制法有效

专利信息
申请号: 201580059036.X 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN107041137B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 王良;雷杰许·卡克尔;沈宏 申请(专利权)人: 英帆萨斯公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81C1/00;H01L21/56;H01L21/768;H01L23/00;H01L23/31;H01L23/367;H01L23/48;H01L23/498;H01L23/538;H01L25/00;H01L25/065;H01L25/10
代理公司: 11408 北京寰华知识产权代理有限公司 代理人: 林柳岑
地址: 美国加州95134*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 芯片 模块 及其 制法
【说明书】:

在多芯片模块(MCM)中,“超级”芯片(110N)贴附至多个“平面”芯片(110F’)(“超级”以及“平面”芯片可以为任何芯片)上。超级芯片位于布线板(WB)上方,但位于至少一些平面芯片(110F)下方。平面芯片重叠于超级芯片上。更进一步,平面芯片的低速IO可藉由长形直接连接件(例如接合线(例如BVAs)或焊料堆叠)以连接WB;这些连接件可与超级芯片并列设置。这些连接件可以为长的,所以超级芯片并不需要薄化。此外,如果省略基板穿孔(TSV),制造产量为高的且制造成本低。提供结合短及长形直接连接件的其它结构,以取得期望的物理以及电性特性。

技术领域

本发明有关于一种集成电路,特别是一种多芯片模块(MCMs)。

相关申请的交叉引用

本申请于要求2014年9月5日提交的美国临时申请案第62/046,395号的优先权,其以引用方式并入本文。

背景技术

下列文件关于集成电路,可作为本案的先前技术文献:

尚未授权的美国专利公开案2009/0267238(2009年10月29日;发明人Joseph等人)。

尚未授权的美国专利公开案2012/0020027(2012年1月26日;发明人Dungan等人)。

多芯片模块(MCM)为多个元件之一组件,其包含至少一集成电路(IC),使得此组件可使用作为一单一半导体集成电路。常见的(非多芯片)半导体集成电路可制作成晶圆或形成于晶圆上的晶粒(单晶IC),并在后续制程中(当切割芯片时)将晶粒与晶圆分离;在一晶圆上可同时制造出多个IC。IC、可能的离散电路以及其他可能的元件(例如非半导体封装基板,其包含印刷电路板、中介层以及其他相似元件等)可组装于MCM上。在本发明中,单字“晶粒(die)”以及“芯片(chip)”为同义词。

第1图绘示MCM包含多个晶粒110(110F.1与110F.2等)贴附至封装基板120上,举例来说,封装基板120可为布线板(WB)或中介层,布线板(WB)例如印刷电路板(PCB)。WB 120具有互连多个晶粒的互连线(图中未显示)。MCM可结合不同形态的晶粒以及第1图所绘示的形态的晶粒。在此示例中,120包含一CPU(中央处理单元)110F.1;一IVR晶粒(交谈式语音辨识器)110F.2;一音频芯片110F.3,其可包含麦克风及/或扩音器及/或音频讯号处理电路;一电源管理集成电路(PMIC)110F.4;致动器晶粒110F.5;一射频(RF)通讯晶粒110F.6;一图形处理单元(GPU)110F.7;一光学晶粒110F.8(例如光转换器及/或处理电路)、一固态硬碟(SSD)110F.9;随机读取存储器(RAM)110F.10;数位讯号处理器(DSP)110F.11;感测芯片110F.12(例如光学感测器、压力感测器或其他型态的感测器)。在本发明中,我们将CPU、IVR以及其他显示于图式中的晶粒称为“功能晶粒(function die)”。

为了降低制造成本,WB可使用有机材料(例如绝缘聚合物)及/或陶瓷及/或玻璃及/或复合材料制造。此类WB可使用模制、印刷或其他技术便宜地制造。例如,WB可以为积层陶瓷、有机材料或复合材料层的叠层,每一层上具有一起形成一互连网的复数个导电线,此互连网互连至贴附至晶粒上的WB的接触垫(图中未显示)。此类WB的制造成本较由硅制造的WB便宜。然而,最小尺寸的有机、陶瓷或复合WB通常大于硅芯片的尺寸。特别是,最小互连线的宽度以及互连线之间的相隔距离可能为硅芯片的1000倍。这样事实的部分原因在于,许多有机材料、陶瓷材料以及复合材料无法像抛光硅芯片一样平坦,亦即它们具有一粗糙表面;因此,造成光刻较不精准。更进一步,此类WB时常使用较光刻粗略且便宜的方法图案化,例如网版印刷法(screen printing)或雷射剥离法(laser ablation)。此外,导电物或其他元件的厚度可大于硅芯片。为了方便参照,我们将这类WB称为“粗糙WB”。除非另有说明,否则“WB”用语包含粗糙以及非粗糙(例如半导体或玻璃)WB。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英帆萨斯公司,未经英帆萨斯公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580059036.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top