[发明专利]带有隔片的密封用片以及半导体装置的制造方法在审
申请号: | 201580062102.9 | 申请日: | 2015-10-15 |
公开(公告)号: | CN107004608A | 公开(公告)日: | 2017-08-01 |
发明(设计)人: | 志贺豪士;饭野智绘 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;C09J7/02;C09J163/00;H01L21/60;H01L23/29;H01L23/31 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 葛凡 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 带有 密封 以及 半导体 装置 制造 方法 | ||
1.一种带有隔片的密封用片,其特征在于,
其具备隔片和层叠于所述隔片上的密封用片,
所述隔片的与所述密封用片接触的面利用氨基醇酸系脱模剂进行了处理。
2.如权利要求1所述的带有隔片的密封用片,其特征在于,在150℃加热1小时后的所述密封用片与所述隔片的剥离强度小于0.4N/100mm宽。
3.如权利要求1或2所述的带有隔片的密封用片,其特征在于,所述密封用片含有环氧树脂。
4.一种半导体装置的制造方法,其特征在于,
该制造方法包括:
工序A,准备在支撑体上固定有半导体芯片的层叠体;
工序X,准备权利要求1~3中任一项所述的带有隔片的密封用片;
工序B,在所述层叠体的所述半导体芯片上配置所述带有隔片的密封用片;
工序C,将所述半导体芯片嵌入所述密封用片中,形成在所述密封用片中嵌入有所述半导体芯片的密封体;
工序D,使所述密封体的所述密封用片热固化;和
工序E,在所述工序D之后,将所述隔片剥离。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日东电工株式会社,未经日东电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580062102.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型便携式折叠氧气枕
- 下一篇:一种改进的麻醉呼吸装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造