[发明专利]分光测定装置及分光测定方法

权利要求书

1.一种分光测定装置，其特征在于，

具备：

积分器，其具有配置有测定对象物的内部空间、将光自外部输入到所述内部空间的光输入部、及将光自所述内部空间输出至外部的光输出部；

第1分光检测器，其对自所述光输出部输出的光中的第1波段的光进行分光，而取得经第1曝光时间的第1光谱数据；

第2分光检测器，其对自所述光输出部输出的光中的与所述第1波段一部分重叠的第2波段的光进行分光，而取得经第2曝光时间的第2光谱数据；及

解析部，其基于所述第1曝光时间及所述第2曝光时间而解析所述第1光谱数据及所述第2光谱数据，

所述解析部存储基于作为所述第1波段与所述第2波段重叠的波段的共同波段中的所述第1光谱数据及所述第2光谱数据而算出的修正值，

所述解析部基于所述第1光谱数据而求得所述共同波段的光子数，且基于所述第2光谱数据而求得所述共同波段的光子数，并基于这些光子数而算出所述修正值。

2.一种分光测定装置，其特征在于，

具备：

积分器，其具有配置有测定对象物的内部空间、将光自外部输入到所述内部空间的光输入部、及将光自所述内部空间输出至外部的光输出部；

第1分光检测器，其对自所述光输出部输出的光中的第1波段的光进行分光，而取得经第1曝光时间的第1光谱数据；

第2分光检测器，其对自所述光输出部输出的光中的与所述第1波段一部分重叠的第2波段的光进行分光，而取得经第2曝光时间的第2光谱数据；及

解析部，其基于所述第1曝光时间及所述第2曝光时间而解析所述第1光谱数据及所述第2光谱数据，

所述解析部存储基于作为所述第1波段与所述第2波段重叠的波段的共同波段中的所述第1光谱数据及所述第2光谱数据而算出的修正值，

所述解析部基于所述第1光谱数据而求得所述共同波段的强度累计值，且基于所述第2光谱数据而求得所述共同波段的强度累计值，并基于这些强度累计值而算出所述修正值。

3.如权利要求1或2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述解析部基于所述修正值、以及所述第1曝光时间及所述第2曝光时间而修正所述第1光谱数据及所述第2光谱数据中的至少一者，而求出包含所述第1波段及所述第2波段这两者的全波段的光谱。

4.如权利要求1或2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述解析部

在通过激发光的入射而射出发生光的测定对象物未配置于所述内部空间的状态下，所述激发光自所述积分器的所述光输入部被输入到所述内部空间时，基于所述第1光谱数据而求得激发光波段的光子数，且基于所述第2光谱数据而求得发生光波段的光子数；

在所述测定对象物配置于所述内部空间的状态下，所述激发光自所述积分器的所述光输入部被输入到所述内部空间时，基于所述第1光谱数据而求得激发光波段的光子数，且基于所述第2光谱数据而求得发生光波段的光子数；

基于这些光子数及所述修正值、以及所述第1曝光时间及所述第2曝光时间而评价所述测定对象物的发光效率。

5.如权利要求1或2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述第2波段的波长长于所述第1波段的波长，所述第2曝光时间长于所述第1曝光时间。

6.如权利要求3所述的分光测定装置，其特征在于，

所述第2波段的波长长于所述第1波段的波长，所述第2曝光时间长于所述第1曝光时间。

7.如权利要求4所述的分光测定装置，其特征在于，

所述第2波段的波长长于所述第1波段的波长，所述第2曝光时间长于所述第1曝光时间。