[发明专利]分光测定装置及分光测定方法

说明书

分光测定装置(1)具备光源(10)、积分器(20)、第1分光检测器(41)、第2分光检测器(42)及解析部(50)。积分器(20)包含：内部空间(21)，其配置有测定对象物；光输入部(22)，其将光输入到内部空间(21)；光输出部(23)，其将光自内部空间(21)输出；及试样安装部(24)，其安装测定对象物。第1分光检测器(41)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第1波段的光进行分光而取得第1光谱数据。第2分光检测器(42)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第2波段的光进行分光而取得第2光谱数据。第1波段与第2波段包含一部分重叠的波段。由此，实现了可分光测定更宽的波段的被测定光的分光测定装置及分光测定方法。

技术领域

本发明的一个方面涉及分光测定装置及分光测定方法。

背景技术

已知有使用积分器及分光检测器来测定测定对象物的发光效率等的分光测定技术。积分器包含：内部空间，其配置有测定对象物；光输入部，其将自光源输出的光输入到内部空间；及光输出部，其将被测定光自内部空间输出至外部。积分器的内部空间是例如球形状，并通过反射率高且扩散性优良的内壁面覆盖。或者，积分器的内部空间是例如半球形状，在该情况下，半球部的内壁为反射率高且扩散性优良的壁面，平面部为反射率高的平坦的镜(参照专利文献1)。

积分器可将自光源输出的激发光自光输入部输入到内部空间，且使该激发光在内部空间内多重扩散反射。另外，积分器也可使通过对配置于内部空间的测定对象物照射激发光而发生的发生光(例如荧光等)在内部空间内多重扩散反射。然后，积分器将被测定光自内部空间经光输出部输出至外部。被测定光是激发光及/或发生光。

分光检测器将自积分器输出至外部的被测定光进行分光而取得光谱数据。分光检测器通过光栅或棱镜等分光元件将被测定光分光成各波长成分，并通过光传感器检测该分光的各波长的光的强度。该光传感器是多个受光部被1维排列后的光传感器，并可通过利用与各波长对应的受光部检测该波长成分的光的强度，而取得被检测光的光谱数据。然后，可通过解析该光谱数据，而可不依赖于测定对象物的发光的角度特性等而测定测定对象物的发光效率等。

作为使用积分器的分光测定技术的测定对象物，可列举有机EL(电致发光)材料或荧光材料等。另外，测定对象物的形态是溶液、薄膜及粉末等任意。这样的测定对象物其发光量子产率(内部量子效率)的评价是重要的。发光量子产率是在测定对象物所产生的发生光的光子数相对于由测定对象物所吸收的激发光的光子数的比。使用积分器的分光测定技术适合使用于评价测定对象物的发光量子产率时。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-196735号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

作为使用积分器的分光测定装置，可分光测定波段200～950nm、波段350～1100nm或波段900～1650nm的被测定光的装置已商品化。

但是，某测定对象物在400～600nm的短波段具有激发光波长，在1100nm以上的长波段具有荧光波长。由于现有的分光测定装置无法同时分光测定400～600nm的波段及1100nm以上的波段，因而无法分光测定更宽的波段的被测定光，从而无法测定这样的测定对象物的发光效率等。

在专利文献1的段落0037中记载有“测定器70的测定范围适合为覆盖自光源装置60照射的激发光的波长范围及接收激发光而在试样SMP发生的荧光的波长范围这两者”。但是，在专利文献1中，并未记载针对包含激发光及荧光这两者的被测定光的光带较宽的情况下如何取得该被测定光的光谱数据。

本发明的一个方面是为了解决上述问题而完成的发明，其目的在于，提供可分光测定更宽的波段的被测定光的分光测定装置及分光测定方法。

解决问题的技术手段