[发明专利]接触式位置测定器及采用该位置测定器的测定方法有效
申请号: | 201580068498.8 | 申请日: | 2015-12-01 |
公开(公告)号: | CN107003105B | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 佐藤康児 | 申请(专利权)人: | 德马吉森精机株式会社 |
主分类号: | G01B5/12 | 分类号: | G01B5/12;B23Q17/20 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 胡曼 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 位置 测定 采用 方法 | ||
1.一种倒角孔径测定方法,其特征在于,
用接触式位置测定器测定倒角孔径,所述接触式位置测定器包括:轴孔径测定件,使该轴孔径测定件在径向上移动并与轴孔的内周面接触,从而测定轴孔径;以及倒角孔径测定件,使该倒角孔径测定件在轴向上移动并与倒角孔的内周面接触,从而测定倒角孔径,
使所述轴孔径测定件在轴孔的径向上沿X轴方向移动,并与轴孔的内周面接触,从而求出X轴移动量,
求出该X轴移动量的中心,接着,以穿过该中心的方式沿与X轴正交的Y轴方向移动,并与轴孔的内周面接触,从而求出Y轴移动量,
将该Y轴移动量的中心作为轴孔径的中心,
使所述倒角孔径测定件以穿过所述倒角孔的上表面中与求出的所述轴孔径的中心一致的位置的方式在轴向上移动,并使所述倒角孔径测定件与所述倒角孔的内周面接触,
基于从所述倒角孔的上表面中与求出的所述轴孔径的中心一致的位置直至接触的轴向移动距离,求出所述倒角孔径。
2.如权利要求1所述的倒角孔径测定方法,其特征在于,
所述接触式位置测定器的所述轴孔径测定件能相对于所述倒角孔径测定件进行装拆。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德马吉森精机株式会社,未经德马吉森精机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580068498.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。