[发明专利]X射线测量设备及其图像重建方法、结构物制造方法有效
申请号: | 201580069160.4 | 申请日: | 2015-02-09 |
公开(公告)号: | CN107209130B | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 山田笃志 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 日本东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 测量 设备 及其 图像 重建 方法 结构 制造 | ||
该图像重建方法包括:通过旋转被测定物以及/或者改变X射线的照射方向,在多个不同的前述照射方向,将前述X射线照射前述被测定物,检测在前述多个不同照射方向上穿透前述被测定物的X射线,并且生成多个检测数据,该检测数据有关X射线穿透前述被测定物的强度;从前述多个不同的照射方向给推定结构物,即基于前述被测定物的形状信息推定的形状,照射前述X射线时,推定X射线按前述多个不同的照射方向穿透的强度,并生成多个推定数据;对于前述多个检测数据,使用前述X射线的照射方向相互对应的前述检测数据与前述推定数据,从前述检测数据提取差异数据,该差异数据表示前述推定数据与前述检测数据之间的差异。
技术领域
本发明涉及一种X射线测量设备的图像重建方法、结构物的制造方法、X射线测量设备的图像重建程序以及X射线测量设备。
背景技术
作为一种无需破坏物体即可获得物体内部信息的设备,例如,了解到有一种X射线设备,用以对物体照射X射线,并对透过该物体的X射线进行检测。该X射线设备具有照射X射线的X射线源,可检测透过物体的X射线,并对物体内部进行观察(请参照专利文献1)。由此,获取物体内部信息。
先行技术文献
专利文献1:美国专利申请公开2010/0098209号公报
然而,采用上述X射线设备获取的图像,是由照射到物体上的X射线引起的,所获得的图像中可能含有伪像等。其结果,就会出现标准精度下降这个问题。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种可抑制检查精度下降的X射线测量设备的图像重建方法、结构物的制造方法、X射线测量设备的图像重建程序以及X线测量设备。
根据本发明的第一方面,X射线测量设备的图像重建方法具有如下特征,即通过旋转被测定物以及/或者改变X射线的照射方向,从多个不同的照射方向,针对被测定的物体照射X射线,并检测多个不同的、每一个照射方向上所穿透被测定物的X射线,且生成多个有关被测定物穿透X射线强度的检测数据,以及依据被测定物的形状信息,推定定结构物的形状,当从多个不同的照射方向,向该推定定结构物照射X射线时,推定推定多个不同的、每一个照射方向上的X射线的透射强度,从而生成多个推定推定数据,再有,分别针对多个检测数据,采用在X射线的照射方向上相互对应的检测数据与推定推定数据,从检测数据中提取差异数据,该差异数据表示推定推定数据与检测数据之间的差异。
根据本发明的第二方面,X射线测量设备的图像重建方法具有如下特征,即通过旋转被测定物以及/或者改变X射线的照射方向,从多个不同的照射方向,针对被测定的物体照射X射线,并检测从多个不同的、每一个照射方向上所穿透被测定物的X射线,且生成多个有关被测定物穿透X射线强度的检测数据,以及依据被测定物的形状信息,推定推定结构物的形状,当从多个不同的照射方向,向该推定推定结构物照射X射线时,推定多个不同的、每一个照射方向上的X射线的透射强度推定,从而生成多个推定推定数据,再有,分别针对多个检测数据,采用在X射线的照射方向上相互对应的检测数据与推定推定数据,从检测数据中提取差异数据,该差异数据表示推定数据与检测数据之间的差异,进而当所提取的差异数据所表示的差异未超过既定值的条件下,即可判断被测定物为良品。
根据本发明的第三方面,结构物的制造方法,就是编写有关结构物形状的设计信息,并基于设计信息编制结构物,采用上述任一方面的X射线测量设备的图像重建方法测量所编制的结构物形状,并获取形状信息,再将所获取的形状信息与设计信息进行比较。
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