[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201580074020.6 申请日: 2015-01-20
公开(公告)号: CN107210332B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 河面英夫;田口晃一;王丸武志 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L31/12 分类号: H01L31/12
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其特征在于,具备:

基板;

形成于所述基板之上的第1及第2电路;

光耦合器,其形成于所述基板之上,具备发光二极管和受光元件,该发光二极管将从所述第1电路输入的电信号转换为光信号,该受光元件将所述光信号转换为电信号而输出至所述第2电路;以及

基板温度监视电路,其读取所述光耦合器的所述发光二极管的Vf电压值,从而对所述基板的温度进行监视;以及

电源电路,其形成于所述基板之上,将电压供给至所述第1及第2电路,

所述基板温度监视电路与监视到的所述基板的温度相应地对所述电源电路的输出电压值的温度波动进行校正。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

所述电源电路具备铝电解电容器,

所述基板温度监视电路通过根据监视到的所述基板的温度对所述铝电解电容器的热履历进行积累,从而对所述铝电解电容器的寿命进行预测。

3.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,

所述基板温度监视电路在预测出的所述铝电解电容器的寿命达到寿命标准时输出错误信号。

4.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

所述光耦合器具备多个光耦合器,

所述基板温度监视电路读取所述多个光耦合器各自的所述发光二极管的Vf电压值、进行平均化,从而对所述基板的温度进行监视。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的半导体装置,其特征在于,

具备恒流电路作为所述发光二极管的驱动电路。

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