[发明专利]多孔膜的测量

权利要求书

1.一种用于测量多孔材料的第一样本散射的辐射的方法，所述方法包括：

确定第一波长和第二波长，所述材料在所述第一波长和所述第二波长处基本上没有呈现出吸收；

测量所述第一样本在所述第一波长处的透射率；

测量所述第一样本在所述第二波长处的透射率；

使用包括第一回归系数的第一多元回归模型，基于所述第一样本在所述第一波长和第二波长处的传输来计算所述第一样本的第一参数S，其中，所述第一参数是影响在所述第一波长和所述第二波长处被所述第一样本散射的辐射总量的参数。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，测量所述第一样本在所述第一波长处的透射率的步骤包括：用包括所述第一波长的入射辐射来照射所述第一样本并测量在所述第一波长处被所述第一样本透射的辐射强度。

3.如任何前述权利要求所述的方法，其特征在于，测量所述第一样本在所述第一波长处的透射率的步骤包括对所述第一波长处的辐射进行滤光和/或测量所述第一样本在所述第二波长处的透射率的步骤包括对所述第二波长处的辐射进行滤光。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，对所述第一波长处的辐射进行滤光的步骤是对入射在所述第一样本上的辐射和/或在所述第一波长处被所述第一样本透射的辐射执行的。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，测量所述第一样本在所述第二波长处的透射率的步骤包括：用包括所述第二波长的入射辐射来照射所述第一样本并测量在所述第二波长处被所述第一样本透射的辐射强度。

6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，对所述第二波长处的辐射进行滤光的步骤是对入射在所述第一样本上的辐射和/或在所述第二波长处被所述第一样本透射的辐射执行的。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一波长和所述第二波长是可见波长和/或红外波长。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一波长和所述第二波长是近红外波长和/或中红外波长。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一波长和/或所述第二波长中的至少一者是受散射影响的波长。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一样本在所述第一波长处所呈现出的散射量与所述第一样本在所述第二波长处所呈现出的散射量不同。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一参数S是与所述第一样本的孔隙度、厚度和/或密度相关的参数。

12.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一多元回归模型是第一线性多元回归模型。

13.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括通过以下操作来计算所述第一回归系数：

测量所述材料的第二样本和第三样本在所述第一波长处的透射率；

测量所述第二样本和所述第三样本在所述第二波长处的透射率；

测量所述第二样本和所述第三样本的相应第一参数；以及

计算所述第一多元回归模型的所述第一回归系数，

其中，所述第二样本在所述第一波长和所述第二波长处的透射率测量是自变量，并且所述第二样本的对应第一参数测量是所述第一多元回归模型的第一方程的因变量，以及

其中，所述第三样本在所述第一波长和所述第二波长处的透射率测量是自变量，并且所述第三样本的对应第一参数测量是所述第一多元回归模型的第二方程的因变量。