[发明专利]一种校正显示屏不均匀的方法、装置及系统有效
申请号: | 201580077903.2 | 申请日: | 2015-03-20 |
公开(公告)号: | CN107408367B | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 罗红磊;谢亮;梁艳峰;叶建波;濮春朗 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 王仲凯 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 校正 显示屏 不均匀 方法 装置 系统 | ||
1.一种校正显示屏不均匀的方法,其特征在于,应用于校正显示不均匀的系统,所述校正显示不均匀的系统包括终端和外围测试系统,所述外围测试系统包括摄像装置、带通滤波器和过程管理部,所述终端包括显示屏,所述方法包括:
所述摄像装置对所述显示屏上的图像进行拍摄,获得初始图像,并将所述初始图像传输至所述带通滤波器进行滤波处理后获得初始图像数据,并将所述初始图像数据发送给所述过程管理部;
所述过程管理部对所述初始图像数据转换为亮度分布数据,并分别与预设的参考阈值进行比较,获得所述亮度分布数据的Mura区域,并对所述初始图像数据中标记Mura区域后,将标记Mura区域的初始图像数据传输至所述终端;
终端从所述外围测试系统的所述过程管理部接收所述标记Mura区域的初始图像数据,所述Mura区域为所述初始图像数据中存在亮度值不在参考阈值集合中的至少一个像素点时,所述至少一个像素点在所述显示屏上所覆盖的区域;
所述终端确定所述Mura区域的目标特征数据集合,所述目标特征数据集合包含所述至少一个像素点的目标特征数据的集合;
所述终端根据特征数据与校正值的对应关系,以及所述至少一个像素点的目标特征数据,得到所述目标特征数据集合对应的目标校正值集合,其中,所述对应关系包含多个查询表LUT,所述LUT为包含n组特征数据与校正值的对应关系集合,所述n为大于1的正整数;
所述终端将所述目标校正值集合写入所述终端,以使所述终端根据所述目标校正值集合对所述Mura区域进行修正;
其中,所述LUT的生成过程包括:所述带通滤波器对不同灰阶图像的图像数据进行带通滤波,去除高频成分,生成带通数据;所述过程管理部计算出所述带通数据对应的校正值,得到不同灰阶图像对应的校正值,并生成将所述带通数据反转的图像校正表,记作所述LUT,所述LUT包含R信号、G信号和B信号对应的3种图像校正值;
所述终端根据所述目标校正值集合对所述Mura区域进行修正,具体为:所述终端根据所述LUT包含R信号、G信号和B信号对应的3种图像校正值对所述标记Mura区域的初始图像数据中的RGB数据进行相应的校正,以抑制颜色不均匀。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述终端将所述目标校正值集合写入所述终端之后还包括:
在预设时长后,所述终端根据所述显示屏当前的亮度衰减值确定所述亮度衰减值对应的目标LUT,并将当前所使用的LUT更新为所述目标LUT,所述LUT与所述亮度衰减值一一对应。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述Mura区域包括多个目标Mura区域,所述终端根据特征数据与校正值的对应关系,以及所述至少一个像素点的目标特征数据,得到所述目标特征数据集合对应的目标校正值集合,将所述目标校正值集合写入所述终端,具体包括:
所述终端从所述LUT中获取所述多个目标Mura区域中每个Mura区域对应的目标校正值,以得到所述目标校正值集合;
将所述目标校正值集合写入所述终端,以使所述终端在确定所述多个目标Mura区域中每个Mura区域的优先级后,根据所述目标校正值集合,按照所述优先级的顺序从高至低分别对所述每个Mura区域的像素进行修正,以得到修正后的目标图像数据。
4.根据权利要求1至3任一所述的方法,其特征在于,所述将所述目标校正值集合写入所述终端之后还包括:
获取补偿处理后的Mura区域的目标灰阶系数;
将所述目标灰阶系数与预设的正常区域的灰阶系数进行比较,得到比较结果;
当确定所述比较结果不满足预设的校正合格条件,则重复校正的过程,直至满足所述预设的校正合格条件,并将满足上述校正合格条件时的校正值集合写入所述终端,以更新所述目标校正值集合。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述从所述LUT中获取所述多个目标Mura区域中每个Mura区域对应的目标校正值,得到目标校正集合具体包括:
根据所述LUT,确定所述每个Mura区域对应的数值区间,并根据预设的选择策略,选择所述每个Mura区域对应的目标校正值,得到所述目标校正值集合。
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