[发明专利]一种校正显示屏不均匀的方法、装置及系统

说明书

本发明提供了一种校正显示屏不均匀的方法、装置及系统，所述方法包括：获取终端的显示屏所显示的初始图像的初始图像数据，初始图像数据中包括与初始图像对应的Mura区域的图像数据，Mura区域为初始图像数据中存在亮度值不在参考阈值集合的至少一个像素点时，该至少一个像素点在显示屏上所覆盖的区域，Mura区域的目标特征数据集合包含所述至少一个像素点的目标特征数据的集合；根据特征数据与校正值的对应关系，及该至少一个像素点的目标特征数据，得到目标特征数据集合对应的目标校正值集合；将目标校正值集合写入所述终端，以使终端根据目标校正值集合对Mura区域进行修正。

技术领域

本发明涉及显示屏技术领域，尤其涉及的是一种校正显示屏不均匀的方法、装置及系统。

背景技术

在生产有显示屏的设备过程中，显示屏易出现不均匀性(Mura)缺陷，Mura的类型主要有角Mura、十字Mura、丸状Mura、拱型Mura等，Mura尺寸等也不断增加，产生Mura的主要原因有由阻抗引起的电流下降(C-I Drop，Current-Impedance Drop)、有机发光二极管(OLED，Organnic Light Emitting Diod)材料特性不均、电阻电容延时(Resistance-Capacitance Delay)特性、偏压、膜片受挤压或褶皱等，从而导致显示屏在显示图像，尤其是在显示大面积同样灰度图像的时，显示屏的亮度不均匀，图像显示异常。

现有技术中，一般采用外围补偿调试系统来消减Mura，通过摄像头对显示屏显示纯色画面进行拍照，获取显示屏当前显示的图像，对每个像素的亮度进行分析，然后根据分析结果，通过调节数据电压，提高亮度较暗的区域的亮度，降低亮度较高的区域的亮度，如此反复，直到显示屏亮度均一性达到预期，然后将超出标准范围的亮度对应的矫正数据，以查询表(LUT，Look up table)的形式存储到存储单元里，以便后续在校正Mura时，通过调用LUT来获取相应的校正数据，来对显示屏的Mura现象进行校正。

但是，该外围补偿调试系统需要多次重复调节电压，导致校正效率低，且体积庞大、结构复杂。

发明内容

本发明提供了一种校正显示屏不均匀的方法、装置及系统，能够解决现有技术中校正显示屏不均匀难度大的问题。

本发明第一方面提供了一种校正显示屏不均匀的方法，包括：

终端获取终端的显示屏所显示的初始图像的初始图像数据，所述初始图像数据中包括与所述初始图像对应的不均匀Mura区域的图像数据，所述Mura区域为所述初始图像数据中存在亮度值不在参考阈值集合的至少一个像素点时，所述至少一个像素点在所述显示屏上所覆盖的区域；

所述终端确定所述Mura区域的目标特征数据集合，所述目标特征数据集合包含所述至少一个像素点的目标特征数据的集合；

所述终端根据特征数据与校正值的对应关系，以及所述至少一个像素点的目标特征数据，得到所述目标特征数据集合对应的目标校正值集合；

所述终端将所述目标校正值集合写入所述终端，以使所述终端根据所述目标校正值集合对所述Mura区域进行修正。

结合第一方面，本发明第一方面的第一种实现方式中，所述对应关系为包含n组特征数据与校正值的对应关系集合的查询表LUT，所述n为大于1的正整数，所述LUT有多个，所述将所述目标校正值集合写入所述终端之后还包括：

在预设时长后，根据所述显示屏当前的亮度衰减值确定所述亮度衰减值对应的目标LUT，并将当前所使用的LUT更新为所述目标LUT，所述LUT与所述亮度衰减值一一对应。