[发明专利]多芯片封装链路错误检测有效

专利信息
申请号: 201580082723.3 申请日: 2015-09-26
公开(公告)号: CN107925507B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: V.伊耶尔;R.G.布兰肯希普;M.瓦格;吴佐国 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L1/20;H04L29/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 姜冰;张金金
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 芯片 封装 错误 检测
【权利要求书】:

1.一种用于传达数据的设备,所述设备包括:

物理层逻辑,用于:

在物理链路的多个数据通道上接收第一数据;

在流通道上接收对应于所述第一数据的流信号,其中所述流通道是所述物理链路的所述通道中的另一个通道,并且对应于所述第一数据的所述流信号用于识别所述第一数据的类型;

识别所述第一数据中特定类型的错误检测码的第一实例;

在所述多个数据通道的至少一部分上接收第二数据;

在所述流通道上接收对应于所述第二数据的流信号,其中对应于所述第二数据的所述流信号用于识别所述第二数据的类型,其中所述第二数据的所述类型与所述第一数据的所述类型不同;以及

识别所述第二数据中所述特定类型的所述错误检测码的第二实例。

2.如权利要求1所述的设备,其中所述特定类型的所述错误检测码包括循环冗余校验CRC码。

3.如权利要求2所述的设备,其中所述第一数据中的所述CRC码和所述第二数据中的所述CRC码基于公共CRC多项式。

4.如权利要求1所述的设备,其中所述错误检测码在所述第一数据中所述多个数据通道的一个或多个特定数据通道上被发送并且所述错误检测码在所述第二数据中所述多个数据通道的一个或多个其他通道上被发送。

5.如权利要求4所述的设备,其中相比所述第一数据,所述多个数据通道中更少的通道被用于发送所述第二数据。

6.如权利要求1所述的设备,其进一步包括通道错误检测逻辑,用于:

从与对应于所述第一数据的所述错误检测码关联的检验子确定在所述第一数据中存在位错误;

从所述检验子确定所述第一数据中的哪个位出错;以及

将出错的所述位映射到所述多个数据通道中的特定一个。

7.如权利要求6所述的设备,其中所述位错误要与所述特定数据通道关联。

8.如权利要求6所述的设备,其中所述检验子从对应于所述第一数据的所述错误检测码被生成。

9.如权利要求6所述的设备,其中将出错的所述位映射到所述多个数据通道中的特定一个基于所述第一数据的所述类型。

10.如权利要求1所述的设备,其中所述物理层逻辑进一步用于:

识别所述多个数据通道中的特定一个是边缘的,其中所述多个数据通道中的至少一个未被使用;以及

重新配置所述链路以在所述特定数据通道上中断路由数据并且用至少一个未使用的通道来代替所述特定数据通道。

11.如权利要求10所述的设备,其中重新配置所述链路包括对所述多个数据通道中的一组通道进行重新路由以将所述组中的每个通道移动到远离所述特定数据通道并且朝向所述至少一个未使用的通道的相邻通道。

12.如权利要求1所述的设备,其中每个数据类型对应于多个不同通信协议中的相应一个。

13.如权利要求1所述的设备,其中所述物理层逻辑进一步用于接收与至少所述第一数据关联的有效信号以指示所述第一数据有效。

14.如权利要求13所述的设备,其中所述物理层逻辑进一步用于对要在所述数据通道上发送的数据定义数据窗口,并且所述数据窗口对应于所述有效信号。

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