[发明专利]串联型质谱分析装置

权利要求书

1.一种串联型质谱分析装置，具备：第一质量分离部，其在源自试样的离子中筛选具有特定质荷比的离子来作为前体离子；碰撞室，其使该前体离子裂解；以及第二质量分离部，其对通过该裂解所生成的各种产物离子进行质谱分析，该串联型质谱分析装置的特征在于，具备：

a)分析控制部，其对各部进行控制，以使将扫描测定和产物离子扫描测定各执行至少一次的循环在规定时间范围内重复，在所述扫描测定中，不使离子在所述碰撞室内裂解，而利用所述第一质量分离部或所述第二质量分离部来实施遍及规定质荷比范围的质量扫描，在所述产物离子扫描测定中，使离子在所述碰撞室内裂解，并且利用所述第二质量分离部来实施遍及规定质荷比范围的质量扫描；以及

b)校正处理部，其对于通过在所述分析控制部的控制下针对测定对象试样中的成分进行产物离子扫描测定所得到的源自该成分的产物离子的质荷比，利用通过在与该产物离子扫描测定相同的循环中实施的扫描测定或者与该循环最近的其它循环的扫描测定所得到的源自标准成分的离子的质荷比来进行校正，所述标准成分是已知精确的质量的成分。

2.根据权利要求1所述的串联型质谱分析装置，其特征在于，

所述校正处理部利用通过在与产物离子扫描测定相同的循环中实施的扫描测定所得到的源自标准成分的离子的质荷比，来校正源自测定对象试样中的成分的产物离子的质荷比。

3.根据权利要求1所述的串联型质谱分析装置，其特征在于，

所述校正处理部利用通过在紧挨着产物离子扫描测定之前实施的扫描测定所得到的源自标准成分的离子的质荷比，来校正源自测定对象试样中的成分的产物离子的质荷比。

4.根据权利要求1所述的串联型质谱分析装置，其特征在于，

所述校正处理部利用通过由分析者指定的扫描测定所得到的源自标准成分的离子的质荷比，来校正源自测定对象试样中的成分的产物离子的质荷比。

5.根据权利要求1所述的串联型质谱分析装置，其特征在于，

所述校正处理部利用通过在从测定开始时间点到测定结束时间点为止的测定时间内遍及规定质荷比范围地重复实施的扫描测定中的、在与产物离子扫描测定相同的循环中实施的扫描测定或在与该产物离子扫描测定最近地实施的扫描测定所得到的源自标准成分的离子的质荷比，来校正源自测定对象试样中的成分的产物离子的质荷比。

6.一种串联型质谱分析装置，具备：第一质量分离部，其在源自试样的离子中筛选具有特定质荷比的离子来作为前体离子；碰撞室，其使该前体离子裂解；以及第二质量分离部，其对通过该裂解所生成的各种产物离子进行质谱分析，该串联型质谱分析装置的特征在于，

a)第一分析控制部，其对各部进行控制以进行扫描测定，在所述扫描测定中，不使离子在所述碰撞室内裂解，而利用所述第一质量分离部或所述第二质量分离部来实施遍及规定质荷比范围的质量扫描；

b)第二分析控制部，其对各部进行控制以进行产物离子扫描测定，在所述产物离子扫描测定中，使离子在所述碰撞室内裂解，并且利用所述第二质量分离部来实施遍及规定质荷比范围的质量扫描；

c)校正处理部，其对于通过在所述第二分析控制部的控制下在从测定开始时间点起经过了规定时间的时间点针对测定对象试样中的成分进行产物离子扫描测定所得到的源自该成分的产物离子的质荷比，利用通过在所述第一分析控制部的控制下在从测定开始时间点起经过了所述规定时间的时间点针对包含标准成分的试样进行扫描测定所得到的源自该标准成分的离子的质荷比来进行校正，所述标准成分是已知精确的质量的成分。