[发明专利]串联型质谱分析装置

说明书

在分析控制部(5)的控制下，质谱分析部(2)在导入测定对象试样中的目标成份的时间范围内针对该目标成份执行产物离子扫描测定，并且，在相同的时段执行包含源自标准成分的离子的m/z的m/z范围的扫描测定。质量校正信息计算部(42)根据在通过扫描测定所得到的MS谱上观测到的源自标准成分的离子的m/z的实测值和理论值来求出质量校正信息。质量校正部(43)利用该质量校正信息，来校正在通过在与该扫描测定相同的循环中执行的产物离子扫描测定所得到的MS/MS谱上观测到的源自目标成份的各离子峰的m/z。能够视作大致同时实施该循环中的MS测定与MS/MS测定，因此能够进行与内部标准法大致同等的质量校正。

技术领域

本发明涉及一种使具有特定的质荷比m/z的离子在碰撞室内通过碰撞诱导裂解(CID＝Collision-Induced Dissociation)等而断裂、并对由此生成的产物离子(碎片离子)进行质谱分析的串联型质谱分析装置。

背景技术

作为质谱分析的方法之一的MS/MS分析(串联分析)是有用于对分子量大的化合物进行鉴定或对其化学结构进行分析的方法，近年来在各种领域中被广泛利用。作为进行MS/MS分析的质谱分析装置而被熟知的是将进行CID的碰撞室夹在中间且在其前后配置四极杆滤质器的三重四极杆质谱分析装置。另外，与三重四极杆质谱分析装置相比，将三重四极杆质谱分析装置中的后级的四极杆滤质器更换为飞行时间质谱分析器而成的所谓的Q-TOF型质谱分析装置虽然结构复杂且价格高昂，但是能够获取精度更高的质谱。在本说明书中，将碰撞室夹在中间且在其前后分别具备质谱分析器的、能够进行MS/MS分析的质谱分析装置被称为串联型质谱分析装置。

一般来说，与四极杆质谱分析仪相比，飞行时间质谱分析仪能够以高精度和高分辨率来求出离子的质荷比。因此，在要求进行产物离子的精确的质量测定、如蛋白质和肽的鉴定和定量、结构类似的大量成分的一齐分析等的领域中，广泛使用Q-TOF型质谱分析装置。一般来说，在质谱分析中要精确地求出作为目标的离子的质量时进行质量校正，该质量校正利用到了包含质荷比的理论值已知的成分的标准试样的测定结果。

例如专利文献1中记载了如下一种方法：在将离子阱与飞行时间质谱分析器组合得到的离子阱飞行时间质谱分析装置(下面称为IT-TOFMS)中进行高精度的质量校正，该离子阱能够保持离子，并且能够选择所保持的离子、通过CID进行裂解操作。

在该IT-TOFMS中，在将源自测定对象试样的各种离子和源自标准试样的离子一起捕捉到离子阱之后，仅使源自测定对象试样的各种离子中的具有特定的质荷比的离子以及源自标准试样的离子残留在离子阱内，将其它离子从离子阱内排除。之后，通过选择性地激励残留的源自测定对象试样的离子来促进通过CID进行的裂解，生成源自测定对象试样的产物离子。其间，源自标准试样的离子继续保持在离子阱内。然后，将源自测定对象试样的产物离子和源自标准试样的离子从离子阱排出并导入到飞行时间质谱分析器，对各个离子的飞行时间进行测定。基于由此得到的源自标准试样的离子的飞行时间或者根据该飞行时间求出的实测的质荷比值，来校正源自测定对象试样的产物离子的质荷比。

这样，在IT-TOFMS中，能够不将源自标准试样的离子裂解而将其保持在离子阱内，同时选择性地仅使源自测定对象试样的离子裂解，因此能够同时对源自测定对象试样的产物离子和源自标准试样的非裂解的离子进行质谱分析，由此能够进行高精度的质量校正。与此相对，在使离子在通过碰撞室时裂解的串联型质谱分析装置中，无法同时对源自测定对象试样的产物离子和源自标准试样的非裂解的离子进行质谱分析。专利文献1中还记载了以下内容：在Q-TOF型质谱分析装置中，不能进行如上述的IT-TOFMS那样的利用内部标准法的质量校正。

专利文献1：日本特开2005-181236号公报

发明内容

发明要解决的问题