[发明专利]用于介质偏斜校正的方法、系统以及计算机可读介质

权利要求书

1.一种用于校正介质的偏斜的非暂时性计算机可读介质，包括当由处理器执行时使所述处理器进行以下操作的指令：

确定所述介质的前缘偏斜值；

从用于介质类型的存储器中选择相应的介质模型，每个介质模型包括成对的斜率和截距，所述介质模型针对所述介质类型调整角度偏移；并且

基于用于所述相应的介质模型的所述成对的斜率和截距，调整介质进给机构中的对齐的介质进给辊的对的差速以将所述介质的后缘偏斜校正到期望的操作窗口内。

2.根据权利要求1所述的计算机可读介质，进一步包括指令，所述指令用于确定所述介质类型并且在单次传递中将所述差速限制到有限的边缘偏斜校正值。

3.根据权利要求2所述的计算机可读介质，进一步包括指令，所述指令用于通过所述对齐的介质进给辊的对来执行多次介质传递，从而递增地校正大于所述有限的边缘偏斜校正值的前缘偏斜值。

4.根据权利要求1所述的计算机可读介质，其中，用于调整差速的指令在固定的介质行进距离上限制所述差速的调整。

5.根据权利要求4所述的计算机可读介质，其中，所述固定的距离是可变的并且被合并到所述介质模型中。

6.一种校正介质的偏斜的系统，包括：

介质引导机构，所述介质引导机构具有在第一方向上对齐的第一辊和第二辊，所述第一方向与具有介质类型的所述介质的前进的第二方向正交；

控制器，用于以差速独立地操作所述第一辊和所述第二辊；

联接到所述控制器的存储器，所述存储器包含介质模型的集合，所述介质模型针对所述介质类型调整角度偏移；

联接到所述控制器并且在所述第一方向上对齐的介质边缘传感器对，所述介质边缘传感器对检测前缘偏斜和后缘偏斜；以及

所述存储器中的偏斜校正模块，所述偏斜校正模块由所述控制器可执行以基于用于所述介质类型的相应的介质模型和所述前缘偏斜来调整所述第一辊和所述第二辊的差速，以将所述介质的后缘偏斜校正到期望的操作窗口内。

7.根据权利要求6所述的系统，进一步包括具有与所述介质边缘传感器对之间延伸的线以所述角度偏移、基本上在第一方向上对齐的打印头。

8.根据权利要求6所述的系统，其中，所述偏斜校正模块可执行为所述控制器中的高优先级处理。

9.根据权利要求6所述的系统，其中，所述偏斜校正模块在所述介质边缘传感器对中的两者都检测到所述介质的前缘之后可触发而被执行。

10.根据权利要求6所述的系统，其中，所述偏斜校正模块能被所述控制器针对所述介质执行多次以限制每次传递的偏斜校正的量，从而防止对所述介质的破坏。

11.一种对用于介质偏斜校正的介质模型的集合进行校准的方法，包括：

表征响应于辊的对的进给的差速的介质对齐机构引发的偏斜，以创建用于多种类型的介质的成对的引发的偏斜和差速值的集合；

将所述成对的引发的偏斜和差速值的集合线性化以创建用于所述多种类型的介质中的每种类型的介质的介质模型的集合的斜率和截距值对，其中，所述斜率和截距值对用于校正所述介质的偏斜；并且

将所述介质模型的集合调整为包括发生边缘偏斜校正的介质的速度和距离。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述距离是可变的，并且所述介质模型被调整为反映所述介质对齐机构的表征距离。

13.根据权利要求11所述的方法，进一步包括将所述介质模型的集合调整为包括介质边缘传感器对与目标定向之间的角度偏移。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述目标定向是打印头的线。

15.根据权利要求11所述的方法，进一步包括将用于多种类型的介质中的每种类型的介质的介质模型的集合存储在所述介质对齐机构的存储器中的固件查找表中。