[发明专利]用于介质偏斜校正的方法、系统以及计算机可读介质

说明书

通过确定介质的前缘偏斜值和从用于介质类型的存储器中选择相应的介质模型来执行介质偏斜校正，每个介质模型包括成对的斜率和截距。基于用于相应的介质模型的成对的斜率和截距，调整介质进给机构中的对齐的介质进给辊的对的差速以将介质的后缘偏斜校正到期望的操作窗口内。

技术领域

本发明涉及介质对齐领域。

背景技术

尽管“无纸化”办公的梦想已经经历多年，但由于诸如纸、聚酯薄膜、塑料、相纸等等的各种形式的有形切片介质的多用途和永久性质，它们的使用量仍然显著。一些示例切片介质设备包括但不限于打印机、扫描仪、传真和复印机。然而，在这种数字介质的时代中，硬拷贝介质质量期望继续提高。同时，切片介质创建设备的价格被推动向下。该跌价是由于数字介质尽管有瞬时性质、但将被重新使用的固有的能力，因此减少对于切片介质输出的一些需求。因此，企业和消费者两者都期望他们的切片介质设备是可承受的并且产生与他们的数字介质设备具有相同的高质量的结果。

发明内容

本发明提供了一种用于校正介质的偏斜的非暂时性计算机可读介质，包括当由处理器执行时使所述处理器进行以下操作的指令：确定所述介质的前缘偏斜值；从用于介质类型的存储器中选择相应的介质模型，每个介质模型包括成对的斜率和截距；并且基于用于所述相应的介质模型的所述成对的斜率和截距，调整介质进给机构中的对齐的介质进给辊的对的差速以将所述介质的后缘偏斜校正到期望的操作窗口内。

本发明还提供了一种校正介质的偏斜的系统，包括：介质引导机构，所述介质引导机构具有在第一方向上对齐的第一辊和第二辊，所述第一方向与具有介质类型的所述介质的前进的第二方向正交；控制器，用于以差速独立地操作所述第一辊和所述第二辊；联接到所述控制器的存储器，所述存储器包含介质模型的集合；联接到所述控制器并且在所述第一方向上对齐的介质边缘传感器对，所述介质边缘传感器对创建前缘偏斜和后缘偏斜；以及所述存储器中的偏斜校正模块，所述偏斜校正模块由所述控制器可执行以基于用于所述介质类型的相应的介质模型和所述前缘偏斜来调整所述第一辊和所述第二辊的差速，以将所述介质的后缘偏斜校正到期望的操作窗口内。

本发明进一步提供了一种对用于介质偏斜校正的介质模型的集合进行校准的方法，包括：表征响应于辊的对的进给的差速的介质对齐机构引发的偏斜，以创建用于多种类型的介质的成对的引发的偏斜和差速值的集合；将所述成对的引发的偏斜和差速值的集合线性化以创建用于所述多种类型的介质中的每种类型的介质的介质模型的集合的斜率和截距值对，其中，所述斜率和截距值对用于校正所述介质的偏斜；并且将所述介质模型的集合调整为包括发生边缘偏斜校正的介质的速度和距离。

附图说明

参考随后的附图更好地理解本公开。附图的要素相互之间不一定按比例。而是已经代替地将重点置于清楚地说明所要求保护的主题。此外，遍及若干视图，相同附图标记指定对应的类似的部分。

图1是示例介质对齐系统的简化示意图；

图2是包括打印头的示例介质引导机构；

图3是图2的机构的另外的示例；

图4是图示出差速对引发的偏斜数据的示例介质响应的图；

图5是具有在X轴上的示例输入偏斜“S'_in”和在Y轴上的示例结果输出偏斜“S'_out”的结果图；

图6是用于校准介质模型的集合的示例方法；

图7是用于校准介质模型的集合的利用图6的示例方法可以执行的附加的框的集合；

图8是具有具备执行介质对齐的指令的计算机可读介质(CRM)的控制器的示例实施方式；并且

图9是可以用于改善对介质进行对齐的用于图8的CRM的附加的指令的示例集合。

具体实施方式