[发明专利]点阵显示器污坏点检测系统及其应用在审
申请号: | 201610010273.3 | 申请日: | 2016-01-07 |
公开(公告)号: | CN106950226A | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 杨盼;郑杰;褚佰年;叶重阳;郑锡斌 | 申请(专利权)人: | 宁波舜宇光电信息有限公司 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956 |
代理公司: | 宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙)33244 | 代理人: | 罗京,孟湘明 |
地址: | 315400 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 点阵 显示器 污坏点 检测 系统 及其 应用 | ||
1.一点阵显示器污坏点检测系统,其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测,其特征在于,包括:
一获取图像装置连接于一计算单元,这样透过所述获取图像装置取得工作中的所述点阵显示器的一显示芯片的一图像数据,经过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值后,消除非发光区域对污坏点抓取的影响,抓取所述图像数据的污坏点。
2.根据权利要求1所述的点阵显示器污坏点检测系统,其中所述获取图像装置为一相机。
3.根据权利要求2所述的点阵显示器污坏点检测系统,其中所述计算单元为一计算机。
4.根据权利要求2所述的点阵显示器污坏点检测系统,其中所述计算单元为一点阵发光芯片。
5.一点阵显示器污坏点检测系统的一污坏点检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
(S01)获取一图像数据;
(S02)对所述图像数据做预处理;
(S03)根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值;以及
(S04)抓取处理之后的所述图像数据的污坏点。
6.根据权利要求5所述的污坏点检测方法,其中步骤(S01),是透过一获取图像装置,对工作状态下的所述点阵显示器的一显示芯片进行拍摄,以获取所述图像数据。
7.根据权利要求6所述的污坏点检测方法,其中步骤(S03),述图像数据求平 均,其是为了消除所述发光点阵之间的所述周围非光发区域。
8.一点阵显示器污坏点检测系统,其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测,其特征在于,包括:
一获取图像装置,一工作平台,一支撑架以及一计算单元,其中所述支撑架垂直装置于所述工作平台,所述获取图像装置可拆解地安装于所述支撑架,所述计算单元连接于所述获取图像装置,这样透过所述获取图像装置取得位于所述工作平台上的所述点阵显示器的一显示芯片的一图像数据,并且对所述图像数据做预处理后,透过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值,进而进一步地抓取出所述点阵显示器的污坏点。
9.根据权利要求8所述的点阵显示器污坏点检测系统,其中所述工作平台为一移动平台。
10.根据权利要求9所述的点阵显示器污坏点检测系统,其中所述获取图像装置为一相机。
11.根据权利要求10所述的点阵显示器污坏点检测系统,其中所述计算单元为一计算机。
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