[发明专利]点阵显示器污坏点检测系统及其应用在审

专利信息
申请号: 201610010273.3 申请日: 2016-01-07
公开(公告)号: CN106950226A 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 杨盼;郑杰;褚佰年;叶重阳;郑锡斌 申请(专利权)人: 宁波舜宇光电信息有限公司
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956
代理公司: 宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙)33244 代理人: 罗京,孟湘明
地址: 315400 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 点阵 显示器 污坏点 检测 系统 及其 应用
【说明书】:

技术领域

发明涉及一点阵显示器的检测,特别涉及一点阵显示器污坏点检测系统和一污坏点检测方法,其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测,进而提高检测的准确性和检测效率。

背景技术

一般的点阵显示器是由几万至几十万个发光二极管像素点均匀排列组成,并可分为图文显示器和视频显示器,其中因为由OLED矩阵块所组成,故又常称为OLED点阵显示器或OLED显示器。所述图文显示器可与计算机同步显示汉字、英文文本和图形。所述视频显示器采用微型计算机进行控制,使得图文、图像并茂,同时透过同步、清晰的信息传播方式去播放各种信息,另外还可显示二维、三维动画、电视、录像、VCD节目以及现场实况。所以点阵显示器在现今的社会中被广泛的运用,像是用于车站、码头、机场、商场、医院、宾馆、银行、证券市场、建筑市场、拍卖行、工业企业管理和其它公共场所等。

另外,点阵显示器有单色和双色两类,可显示红,黄,绿,橙等。根据图素的数目分为等,双原色、三原色等,根据图素颜色的不同所显示的文字、图像等内容的颜色也不同,单原色点阵只能显示固定色彩如红、绿、黄等单色,双原色和三原色点阵显示内容的颜色由图素内不同颜色发光二极体点亮组合方式决定,另外,如果按照脉冲方式控制二极体的点亮时间,即则可实现256或更高级灰度显示,因此可实现真彩色显示。

在现今,OLED点阵显示器的运用受到广泛重视进而发展迅速,其中的优点是亮度高、工作电压低、功耗小、小型化、寿命长、耐冲击和性能稳定。因此OLED点阵显示器的发展前景极为广阔,目前正朝着更高亮度、更高耐气候性、更高的发光密度、更高的发光均匀性,可靠性、全色化方向发展。

因此,在OLED点阵显示器的生产制造过程中,如何检测判断一块点阵显示器的好坏和是否有污坏点,也成为在生产制造的工序中一个比较重要的课题。一 般检测感光器件污坏点是通过该感光器件拍摄的图片来检测,而对于点阵显示器只能使用肉眼来检测,然而,利用检测人员的人眼去判断一个点阵显示器的好坏,因为是利用所述检测人员的人眼进行判断,所以无法防呆,并且会产生误判的情况,同时因为是透过人眼进行检测,由于人类生理机能的关系,所以经过长时间的使用人眼,会造成人眼产生疲劳,这时除了容易产生误判的情形外,同时会造成生产效率变低的情况发生。并且,由于是借助人眼进行判断,所以对于所述检测人员的检测经验值要求也相对的提高,而且由于人员总是会存在主观性,因此检测工序也无法有效率和精准的量化。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统,其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测,进而提高检测的准确性和检测效率。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统,其以实现所述点阵显示器的污坏点的实时检测。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统,其中包括一污坏点检测设备,其可以自动抓取所述点阵显示器的污坏点,以以减少人工检测的失误和提升生产效能,并确保所述点阵显示器的检测工序可以量化。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统,其中包括一获取图像装置,其用于拍摄所述点阵显示器在工作时的一显示芯片并取得一图像数据后,对所述图像数据进行污坏点检测。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统,其中包括一计算单元,根据取得的所述图像数据的一发光点阵区域和一周围非光发区域的排布规律按n*n求平均,并由此排除非发光区域对污坏点的干扰,判断所述点阵显示器的污坏点。

本发明的另一目的在于提供一点阵显示器污坏点检测系统,其以用于有效的提高了点阵显示器污坏点检测的准确率和有效减少了污坏点检测所需时间,提高了测试效率。

为了达到以上目的,本发明提供一点阵显示器污坏点检测系统,其以用于自动地进行点阵显示器的污坏点检测,包括:

一获取图像装置连接于一计算单元,这样透过所述获取图像装置取得工作中 的所述点阵显示器的显示芯片的图像数据,经过所述计算单元根据发光点阵和周围非光发区域的排布规律按n*n求平均值后,消除非发光区域对污坏点抓取的影响,抓取所述图像数据的污坏点。

根据本发明的一个实施例,所述获取图像装置为一相机。

根据本发明的一个实施例,所述计算单元为一计算机。

根据本发明的一个实施例,所述计算单元为一点阵发光芯片。

根据本发明的另外一方面,本发明还提供一点阵显示器污坏点检测系统的一污坏点检测方法,包括如下步骤:

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