[发明专利]通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置有效
申请号: | 201610015866.9 | 申请日: | 2016-01-12 |
公开(公告)号: | CN105469982B | 公开(公告)日: | 2017-10-13 |
发明(设计)人: | 杨刚;于国辉;单宏;孟宪圆;于梅霞;张津铭 | 申请(专利权)人: | 秦皇岛视听机械研究所 |
主分类号: | H01G4/12 | 分类号: | H01G4/12 |
代理公司: | 秦皇岛市维信专利事务所(普通合伙)13102 | 代理人: | 戴辉 |
地址: | 066000 河北省*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通用型 单层 电容器 裸芯粒 微调 测试 装置 | ||
1.一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置,其特征是,包括一个Z向升降机构,及安装在Z向升降机构上的旋转式裸芯粒测试机构,所述的Z向升降机构,包括丝杆17,在所述丝杆17上安装有配合的方形螺母18,该方形螺母18上固定连接框式支撑架20,所述丝杆17下端安装有Z向电机大带轮6,通过其上的Z向驱动皮带5与Z向驱动电机4上的Z向电机小带轮3连接;所述的旋转式裸芯粒测试机构,包括裸芯粒测试座32,通过裸芯粒测试座32的底部与旋转大带轮26固定连接,所述的旋转大带轮26安装在框式支撑架中心的轴承上,该旋转大带轮26通过旋转皮带27与旋转电机30上的旋转小带轮29连接,该旋转式裸芯粒测试机构与外接的真空设备连接。
2.根据权利要求1所述的通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置,其特征是,所述裸芯粒测试座(32)可以实现0-360°转动,以沿Z向升降运动。
3.根据权利要求1所述的通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置,其特征是,所述裸芯粒测试座32呈“∩”型的中空体,该裸芯粒测试座32一侧设有真空接头33,所述裸芯粒测试座32端面中部带有方形测试槽,该方形测试槽上分布有真空吸孔,与真空接头33相通。
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