[发明专利]通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置

说明书

技术领域

本发明用于微波陶瓷电容制造领域。具体说是一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，应用在小尺寸通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统，及对通用型单层电容器裸芯粒进行测试。不仅适通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统上，还可以用于二极管、三极管、电容等裸芯粒芯片吸取，尤其适用于薄脆和易损伤的高定位精度的裸芯粒芯片测试。

背景技术

通用型单层电容器，在军事领域和高端民用领域均得到广泛应用，如雷达、导弹遥控、卫星通讯、定位、电视卫星接收器、无线局域等系统，其裸芯粒芯片产品尺寸从0.254mm×0.254mm×0.127mm至2.29mm×2.29mm×0.254mm，该电容器裸芯粒芯片具有体积小、薄、脆、镀金涂层易划伤等特点，而测试座装置是通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统上的重要部件，直接影响通用型单层电容器裸芯粒芯片的测试结果，还影响芯片的产品质量，引起划伤、损伤和崩角等质量问题。目前，厂家通常采用人工拾取的方式，通过镊子拾取，并将其放置于测试板上，手持测试针与芯片接触，接触测试过程中由于工人的熟练程度以及使用的测试力不同及人为因素的影响，对芯片会照成不同程度的损伤或测试针的接触位置偏移芯片中心，都会造成测试误差，影响到测试数据的准确性，进而影响应用效果。

发明内容

鉴于上述现状，本发明提供了一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置。使其在高速测试过程中通过旋转调整测试针与裸芯粒的测试位置，提高测试定位精度，减少由于定位精度而造成的测试偏差，影响分选测试准确性和效率。

本发明解决其技术问题的技术方案是：一种通用型单层电容器裸芯粒微调测试座装置，包括一个Z向升降机构，及安装在Z向升降机构上的旋转式裸芯粒测试机构，该旋转式裸芯粒测试机构与外接的真空设备连接。

本发明中，所涉及的Z向升降机构，包括丝杆，在所述丝杆上安装有配合的方形螺母，该方形螺母上固定连接框式支撑架，所述丝杆下端安装有Z向电机大带轮，通过其上的Z向驱动皮带与Z向驱动电机上的Z向电机小带轮连接。

进一步地，所涉及的旋转式裸芯粒测试机构，包括裸芯粒测试座，通过裸芯粒测试座的底部与旋转大带轮固定连接，所述的旋转大带轮安装在框式支撑架中心的轴承上，该旋转大带轮通过旋转皮带与旋转电机上的旋转小带轮连接。

进一步地，所述裸芯粒测试座可以实现0-360°转动，以沿Z向升降运动。

进一步地，所述裸芯粒测试座呈“∩”型的中空体，该裸芯粒测试座一侧设有真空接头，所述裸芯粒测试座端面中部带有方形测试槽，该方形测试槽上分布有真空吸孔，与真空接头相通。

本发明的有益效果是：本发明裸芯粒微调测试座装置在高速测试过程中通过旋转调整测试针与裸芯粒的测试位置，提高测试定位精度，减少由于定位精度而造成的测试偏差，影响分选测试准确性和效率。另外，本发明装置替代现有手持测试方式，解决了人工操作所带来的影响产品质量的一系列问题，大大降低了人工劳动强度，增加了产品的质量的一致性和可靠性。采用本装置侧底解决了上述缺陷带来的问题，降低工人劳动强度和人力。此外，本发明用于微波陶瓷电容制造行业，应用在小尺寸通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统上。用于对通用型单层电容器裸芯粒进行测试。本发明不仅适通用型单层电容器裸芯粒测试机器人的分选测试系统上。还可以用于二极管、三极管、电容等裸芯粒芯片吸取，尤其适用于薄脆和易损伤的高定位精度的裸芯粒芯片测试。

附图说明

图1是本发明的结构视图；

图2是图1的A-A剖视图。

具体实施方式

下面结合附图实施例对本发明进行进一步详细描述。