[发明专利]内存单元数组中筛除离群位及检测位线短路的方法

权利要求书

1.一种内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，包括：

提供一内存单元数组，所述内存单元数组包括多个内存单元、多条字符线、多条位线以及多条源极线，各所述内存单元连接至一条位线、一条字符线以及一条源极线；

输入一第一电压给由所述多条位线选择出来的一条选择位线，输入一第二电压给未选择位线，并且量测所述多个内存单元的临界电压；以及

筛除临界电压被扰动的内存单元的位，其中对应的内存单元的临界电压落在一基准电压的第一侧而其他内存单元的临界电压落在所述基准电压的第二侧，且所述第一侧与所述第二侧相对，判断落在所述第一侧的内存单元的数量与落在所述第二侧的内存单元的数量，数量较少者判断为离群并筛除判断为离群的内存单元的位。

2.根据权利要求1所述的内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，在量测所述多个内存单元的临界电压时，浮置所述多条字符线以及所述多条源极线。

3.根据权利要求1所述的内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，在量测所述多个内存单元的临界电压时，施加接地电压给所述多条字符线以及所述多条源极线。

4.根据权利要求1所述的内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，所述第一电压大于所述第二电压。

5.一种内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，包括：

对一内存单元数组上的多个内存单元进行一深度强抹除步骤；

接续所述深度强抹除步骤后，对所述内存单元数组上的所述多个内存单元进行一离群位筛除，其中所述离群位筛除的方法包括对应的内存单元的临界电压落在一基准电压的第一侧而其他内存单元的临界电压落在所述基准电压的第二侧，且所述第一侧与所述第二侧相对，判断落在所述第一侧的内存单元的数量与落在所述第二侧的内存单元的数量，数量较少者判断为离群并筛除判断为离群的内存单元的位；以及

对所述内存单元数组上的所述多个内存单元反复进行强程序化以及一般抹除的循环。

6.根据权利要求5所述的内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，进行所述深度强抹除步骤之前还包括对所述内存单元数组上的所述多个内存单元进行预程序化。

7.根据权利要求6所述的内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，进行所述预程序化之前，还包括对所述内存单元数组上的所述多个内存单元进行首程序化以及首抹除。

8.根据权利要求5所述的内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，所述离群位筛除的方法包括分阶段多次进行所述离群位筛除并且在两次进行所述离群位筛除之间进行接续步骤。

9.根据权利要求8所述的内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，所述接续步骤包括低温烘烤、高温烘烤与程序化其中至少一个。

10.根据权利要求5所述的内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，在所述深度强抹除步骤中间歇性的插入多次软程序化步骤。

11.根据权利要求5所述的内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，一般抹除时的临界电压的分布值的下界与深度强抹除时的临界电压之间存在一差值，此差值占抹除期间的临界电压与深度强抹除时间的临界电压之间的最大差值的20％以上，则插入软程序化步骤。

12.根据权利要求5所述的内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，量测所有所述多个内存单元的临界电压后，由所有所述多个内存单元的临界电压中定义出一电压集中范围，并且以所述电压集中范围的端点电压作为基准值，将量测到的临界电压与所述基准值的压差大于预定值时，判断为离群且筛除对应的内存单元所在位。