[发明专利]CMOS图像传感器像元合并读出电路结构及信号处理读出方法有效
申请号: | 201610020794.7 | 申请日: | 2016-01-13 |
公开(公告)号: | CN105516625B | 公开(公告)日: | 2018-10-19 |
发明(设计)人: | 解宁;丁毅;王欣;李梧萤;陈世军 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H04N5/3745;H04N5/378 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | cmos 图像传感器 合并 读出 电路 结构 信号 处理 方法 | ||
1.一种CMOS图像传感器像元合并读出电路结构,包括列总线,列放大器,列读出复位开关,列选通开关,列合并电容,列合并控制开关,列合并总线,列合并输出开关,行合并电容,合并复位开关,行合并控制开关,行合并总线及输出放大器,其特征在于:
所述的列总线连接到列读出复位开关与列放大器并联结构的输入端,列选通开关连接到列读出复位开关与列放大器并联结构的输出端后,通过列选通开关连接到列合并电容上;列合并总线跨接在各列的列合并电容上,每两个跨接结点之间设有一个列合并控制开关用于列合并操作;合并复位开关与行合并电容并联,其并联结构的输入端连接在列合并控制开关的输出端,行合并总线跨接在各列的行合并电容上,每两个跨接结点之间设有一个行合并控制开关用于行合并操作,行合并控制开关的输出端连接到输出放大器的输入端;
所述CMOS图像传感器像元合并读出电路结构工作时,由列总线依次选取待合并像元所在行,通过列合并控制开关和行合并控制开关完成行列像元合并操作,最终经输出放大器输出像元合并后的信号。
2.一种基于权利要求1所述的CMOS图像传感器像元合并读出电路结构的信号处理读出方法,其特征在于:
对于一个M行,N列的CMOS探测器,进行p×q像元合并,最终输出m×n规模的图像,p、q、m、n为任意正整数并满足p×m=M,q×n=N,p>1,q>1,p≤q;在CMOS探测器产生的信号进入列总线后,该读出电路结构的合并方法步骤如下:
(1)闭合所有列读出复位开关、合并复位开关,将列合并电容与行合并电容上电压复位,复位后将以上开关断开;
(2)将第1至q列的列总线连接到第1行像素,同时闭合第1至q列的列选通开关,此时第1行1至q列像素的信号储存在对应的列合并电容上;
(3)闭合第1至q列的列合并控制开关,此时第1至q列列合并电容上的信号相通,且信号值都等同于该行1至q列像素的信号均值;
(4)断开1至q列的列合并控制开关,闭合第1列的列合并输出开关,将列合并电容上的信号转移到该列的行合并电容上;
(5)断开第1列的列合并输出开关;
(6)重复步骤(2)至步骤(5),每次重复时,在步骤(2)中分别将第1-q列的列总线连接到第2行、第3行……直至第p行像素,在步骤(4)中分别闭合第1列,第2列……直至第p列的列合并输出开关,步骤(1)至步骤(5)共计进行p次,步骤结束后第1至p列的行合并电容上分别存储了探测器第1至p行,每行q个像素的信号均值;
(7)闭合第1至p-1列的行合并控制开关,保持第p列的行合并控制开关断开,此时第1至p列的行合并电容上的信号相通,且信号值都等同于p×q个像素的信号均值;
(8)断开所有行合并控制开关,在第1至p列的输出放大器中任选一列读出,读出结果为p×q个像素的信号均值,该p×q个像元合并读出完成;
以上步骤完成单个规模为p×q的合并模块的像元合并操作,全帧读出时,同一合并行中n个合并模块的步骤(1)至步骤(7)同时完成,步骤(8)按第1至第n个合并模块依次进行,完成一个合并行后,再进行下一个合并行的操作,直至全帧数据读出,获取m×n规模的图像。
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