[发明专利]不同大小样本均值-标准偏差控制图的统计过程控制方法有效

专利信息
申请号: 201610023611.7 申请日: 2016-01-14
公开(公告)号: CN105676817B 公开(公告)日: 2018-07-27
发明(设计)人: 田文星;游海龙;顾铠;贾新章 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;黎汉华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 不同 大小 样本 均值 标准偏差 控制 统计 过程 方法
【权利要求书】:

1.一种不同大小样本均值-标准偏差控制图的统计过程控制方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)采集样本:

当同一产品在相应的工序完成加工后,根据企业采样标准,采集k批样本;记第i批样本的大小为ni,第i批的第j个样本为xij,其中i=1,2,…,k,j=1,2,…ni,k≥25,ni≥2;

(2)根据每批的样本,获得每批样本的均值和标准偏差,其中第i批的均值和标准偏差si为:

(3)根据每批样本的大小、均值和标准偏差,获得母体均值估计量μ和标准偏差估计值σ:

其中C2(ni)、C3(ni)为中间变量,是关于样本大小ni的函数,其计算公式为:Γ(ni/2)和Γ((ni-1)/2)是关于样本大小ni的伽玛函数;

(4)获得均值-标准偏差控制图中两个控制图各自相应的特征值:

4a)根据第i批的均值母体均值估计量μ和标准偏差估计值σ,获得均值控制图的特征值:

4b)根据第i批的标准偏差si、母体均值估计量μ和标准偏差估计值σ,获得标准偏差控制图的特征值:

(5)获得均值-标准偏差控制图中两个控制图各自相应的控制线:

5a)根据均值控制图的特征值μdi服从标准正态分布的特性,利用‘3sigma’原理,得到均值控制图的中心线CL1、上控制线UCL1和下控制线LCL1

5b)根据标准偏差控制图的特征值sdi近似服从标准正态分布的特性,利用‘3sigma’原理,得到标准偏差控制图的中心线CL2、上控制线UCL2和下控制线LCL2

(6)按照休哈特控制图的绘制方法,将步骤(4a)和步骤(5a)得到的结果绘制到均值控制图中,将步骤(4b)和步骤(5b)得到的结果绘制到标准偏差控制图中;

(7)应用判断过程异常准则对步骤(6)得到的两个控制图进行判断:如果两个控制图均未出现异常,则说明生产过程是受控的,继续进行生产;如两个控制图有一个或两个控制图出现异常,则说明生产过程失控,则需停止生产,查找失控原因并采取相应的措施。

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