[发明专利]高密度集成电路封装结构以及集成电路有效

专利信息
申请号: 201610027678.8 申请日: 2016-01-15
公开(公告)号: CN105514057B 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 梁大钟 申请(专利权)人: 气派科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/56
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙)44309 代理人: 廉红果,吴雅丽
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道禾*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 高密度 集成电路 封装 结构 以及
【说明书】:

技术领域

发明涉及集成电路封装的技术领域,更具体地说,本发明涉及一种高密度集成电路封装结构以及具有该封装结构的集成电路。

背景技术

集成电路是现代技术的核心,也是现代科学技术发展的基础,科学研究都必须依赖以集成电路为核心的仪器设备;另外它还是人类现代文明的基础,从根本上改变人们生活方式的现代文明,如物联网、互联网、电脑、电视、冰箱、手机、IPAD、IPHONE、各种自动控制设备等等都依赖集成电路来实现其智能化功能的。

集成电路的制造分设计、圆片制造、封装、测试几个主要部分,封装是其中关键环节,建立在封装技术上的封装形式是为满足各种用途对集成电路的性能、体积、可靠性、形状和成本的特殊要求而研制的。

集成电路封装:是指通过使用能够保证单晶材料完美晶格结构的研磨、切割技术将集成电路圆片分离成符合要求的单一芯片,用导电胶或共晶等技术将芯片固定到引线框基岛上,用微细连接技术(微米级)将芯片和外引线脚连接起来,然后用高分子材料或陶瓷材料将芯片和引线等保护起来,并形成一定的形状,成为可供用户使用的集成电路产品。

集成电路的封装类型可以概括为两大类:密封陶瓷封装以及塑料封装。密封陶瓷封装是利用真空密封装置将芯片与环绕的包围物隔离的方式封装,典型的密封陶瓷封装应用于高效能的封装等级。而塑料封装芯片则是利用环氧基树脂将芯片封装,虽然其难以完全与环境隔离,因此周边的空气可能穿过此封装,并在工艺中会对芯片的质量产生不良的影响,但近年来塑料封装技术在其应用和功效上得到了显著的发展,完全能够满足绝大部分工业、民用产品,材料成本低且塑料封装的生产工艺能够进行自动化生产,从而有效地降低了成本。

现在集成电路的封装形式主要有DIP、SOP、SSOP、TSSOP、MSOP、QFP、PLCC、QFN、DFN等。SOP、SSOP、TSSOP、MSOP等等封装结构由于体积小、频率特性较好、内阻较低、材料用量少、生产自动化程度高,而且整机企业使用时易于自动化作业,生产效率高、成本低,所以是绝大部分工业、民用产品采用的封装形式。

集成电路的封装形式对集成电路产品的性能、可靠性、成本具有重大作用。随着芯片制造技术从微米向纳米级发展,单位面积芯片功能每18个月翻番的摩尔定律在逐渐失效,未来功能强大的云计算、互联网中的物联网和移动网等等必须依赖其核心技术集成电路的突破,集成电路的大容量、高速度、低功耗的提高,在芯片制造上将变得越来越难,更大程度上需要封装形式及技术的突破。原来集成电路芯片制造技术的特征尺寸是微米级,甚至更宽,所以芯片的面积普遍较大,为了容纳下较大的芯片面积,导致封装结构尺寸很大,不但消耗很多原材料、封装生产效率低、功耗大、频率低、集成电路焊接在印刷线路板上需要占用较大的面积、成本较高;同时为了满足各种成品的尺寸要求,设计了接近的SOP、SSOP、TSSOP、MSOP等等多种封装结构;并且用现在的封装结构封装当今的小尺寸芯片的产品,由于引线比较长,频率特性下降、内阻明显增加、功耗及热耗大、产品寿命下降。随着芯片制造技术从微米级向亚微米,甚至纳米级(16纳米已经成熟,可以规模化生产)推进,芯片面积以几何级数减小,同时,对芯片的功耗、频率特性等提出了更高的要求,对封装结构也提出了更高的要求。

发明内容

为了适用芯片制造技术从微米级向亚微米,甚至纳米级的发展的需要,克服现有技术中的封装结构在电路体积大、产品电热性能差,严重影响产品可靠性、频率特性下降、制造成本高等方面的不足,本发明的目的在于提供一种高密度集成电路封装结构以及集成电路。

为了实现上述发明目的,本发明采用了以下技术方案:

一种高密度集成电路封装结构,包括:金属引线框,所述金属引线框包括引线框基岛、内引脚线和外引脚线;固定在引线框基岛上的芯片;以及芯片和内引脚线之间的微米级连接线;和密封所述金属引线框、芯片以及微米级连接线的长方体塑封结构,其特征在于:所述塑封结构的长度A1满足关系:1.20mm+(B-8)×0.30mm/2≤A1≤4.50mm+(B-8)×1.00mm/2;塑封结构的宽度A2满足关系:1.20mm≤A2≤3.50mm;塑封结构的厚度A3满足关系:A3≥0.35mm;B为外引脚线的个数,且为满足4≤B≤68的整数。

作为优选地,外引脚线的跨度B1满足2.30mm≤B1≤5.20mm;外引脚线的间距B2满足0.30mm≤B2≤1.00mm。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于气派科技股份有限公司,未经气派科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610027678.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top