[发明专利]静动双模料位计及其测量料位的方法

权利要求书

1.一种静动双模料位计测量料位的方法，其特征在于，所述静动双模料位计包括至少两个电极、电极检测部件、运算处理器、信号输出部件、机械动作部件以及机械动作检测部件，所述电极和所述运算处理器均与所述电极检测部件电连接，所述机械动作部件、所述机械动作检测部件以及所述信号输出部件分别与所述运算处理器信号连接，所述机械动作部件与所述机械动作检测部件连接，所述机械动作部件与所述电极机械连接或设置于所述电极的附近，且在使用时所述电极与所述机械动作部件设置于测量空间内的待测量位置；

所述静动双模料位计测量料位的方法包含以下步骤：

S1：电极检测部件将检测到的两两电极之间的启动前物理量信息发送给运算处理器；

S2：所述运算处理器将所述启动前物理量信息与其预先存储的用于启动机械动作部件的启动条件进行比较，若所述启动前物理量信息符合所述启动条件，则进入S3；

S3：所述运算处理器控制所述机械动作部件启动；

S4：机械动作检测部件检测所述机械动作部件的动作状态信息，并将所述动作状态信息发送给所述运算处理器；

S5：所述运算处理器对所述动作状态信息进行运算处理以获取待测物料的料位信息；

S6：所述运算处理器将所述料位信息通过信号输出部件输出。

2.根据权利要求1所述的测量料位的方法，其特征在于，在所述S4中，所述电极检测部件还检测两两所述电极间的启动后物理量信息并将该启动后物理量信息发送给所述运算处理器；

则在所述S5中，所述运算处理器对所述启动后物理量信息和所述动作状态信息进行综合运算处理以获取所述料位信息。

3.根据权利要求2所述的测量料位的方法，其特征在于，所述运算处理器依据所述动作状态信息和所述启动前物理量信息调整所述启动条件；或者，所述运算处理器依据所述动作状态信息和所述启动后物理量信息调整所述启动条件；或者，所述运算处理器依据所述动作状态信息、所述启动前物理量信息以及所述启动后物理量信息调整所述启动条件。

4.根据权利要求1所述的测量料位的方法，其特征在于，所述静动双模料位计还包含至少两个与所述运算处理器信号连接的温度测量部件，所述温度测量部件分别设置在测量空间内的不同待测量位置；

在所述S1中还包含以下步骤：

多个温度部件将测量到的对应待测量位置处的温度数据发送给所述运算处理器；

则在所述S2中，所述运算处理器将所述启动前物理量信息和所述温度数据与所述启动条件进行比较，若所述启动前物理量信息和所述温度数据同时符合所述启动条件，则进入所述S3。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的测量料位的方法，其特征在于，在所述S1之前，还包含以下步骤：

所述运算处理器控制所述机械动作部件启动；

在所述机械动作检测部件实时检测所述机械动作部件的运行状态的同时，所述电极检测部件也实时检测两两所述电极间的物理量信息；

将所述机械动作检测部件检测到所述机械动作部件的运行受阻时的物理量信息作为设置所述启动条件的依据。

6.根据权利要求1~4中任一项所述的测量料位的方法，其特征在于，在所述S3中，所述运算处理器还能够通过预先设定的运行程序控制所述机械动作部件的启动时刻以及启动后的运行时间。

7.根据权利要求1~4中任一项所述的测量料位的方法，其特征在于，所述启动前物理量信息或所述启动后物理量信息为以下任意一种或其组合：

电容、阻抗、电感、电阻、导纳。

8.根据权利要求1~4中任一项所述的测量料位的方法，其特征在于，所述机械动作部件为以下任意一种或其组合：

旋转部件、摆动部件、振动部件、滑动部件。

9.根据权利要求1~4中任一项所述的测量料位的方法，其特征在于，所述电极检测部件为射频导纳检测电路和/或电容检测电路。

10.根据权利要求1~4中任一项所述的测量料位的方法，其特征在于，所述运算处理器为一个独立的运算处理器、多个运算处理器的组合、一个PLC或几个PLC的组合。