[发明专利]一种通用的芯片性能验证装置及方法

权利要求书

1.一种通用的芯片性能验证装置，其特征在于，包括：

性能统计项注册池，由多个不同的性能统计项构成，每个所述性能统 计项计算一项性能指标值，用户根据所验证芯片的性能需要注册相应的所 述性能统计项；

时间窗口模块，根据仿真时间以及用户需求设置统一的时间窗口，在 每次时间窗口来临时发送时间窗口来临事件；

信息收集模块，仿真开始后收集、存储被注册性能统计项性能指标信 息，在时间窗口来临时，向被注册性能统计项传输该时间窗口内对应的性 能指标信息；

通用方法模块，在被注册所述性能统计项收到时间窗口来临事件后， 向被注册的每个所述性能统计项提供性能指标值的计算方法；

报告输出模块，在收到每个时间窗口来临事件时轮询所有被注册性能 统计项，并输出对应的性能指标值报告。

2.如权利要求1所述的通用的芯片性能验证装置，其特征在于，

所述性能统计项可以被一个或者多个用户多次注册，并根据注册的名 称进行区分。

3.如权利要求1所述的通用的芯片性能验证装置，其特征在于，所述 性能统计项包括：

Clock，用于检测时钟的性能参数，时钟的性能参数包括：占空比、周 期、均方根、峰峰值、最大周期差和频偏值；

Statistic，用于统计用户所定义的计数项；

PacketLoss，用于统计用户所指定的端口或者业务的丢包率；

BitErrRate，用于统计用户所指定的端口或者业务的误码率；

Ratio，用于统计用户所指定的端口或者业务的速率；

Latency，用于统计用户所指定的不同端口之间的延迟；

BackToBack，用于统计用户所指定的端口或者业务的背靠背值；

Throught，用于统计用户所指定的端口或者业务的吞吐量。

4.如权利要求1所述的通用的芯片性能验证装置，其特征在于，所述 性能指标值包括：该性能指标的最大值、最小值、平均值、历史最大值、 历史最小值和历史平均值。

5.如权利要求1所述的通用的芯片性能验证装置，其特征在于，所述 时间窗口触发条件如下：

TCur-TBgn>＝ITime×Tstep×STime

其中，TCur为当前时刻，TBgn为起始时刻，ITime为时间窗口号，TStep 为时间窗口大小，STime为时间精度，时间精度由仿真器指定的Timescale 确定。

6.如权利要求1所述的通用的芯片性能验证装置，其特征在于，

仿真结束后，所述信息收集模块向各个被注册的性能统计项反馈信息 收集结束信息，所述被注册的性能统计项停止性能指标计算，所述报告输 出模块轮询所有被注册的性能统计项，并打印所有被注册的性能统计项的 性能指标历史值。

7.如权利要求1所述的通用的芯片性能验证装置，其特征在于，还包 括门面封装模块，将每个用户按照所验证芯片的性能需要注册相应的性能 统计项和所述时间窗口模块、信息收集模块、通用方法模块和报告输出模 块封装为单例，对每个用户的仿真的进行例化。

8.一种通用的芯片性能验证方法，其特征在于，包括以下步骤：

建立由多个性能统计项构成的性能统计项注册池，并根据所验证芯片 的性能需求，在性能统计项注册池中选取一项或多项性能统计项进行注册；

芯片仿真开始，信息收集模块根据被注册的各性能统计项所需收集、 存储相关性能指标信息；

根据仿真时间以及用户需求设置统一的时间窗口，时间窗口来临时通 过时间窗口来临事件告知各个被注册的性能统计项以及报告输出模块；

接收到时间窗口来临事件后，每个被注册的性能统计项调用通用方法 模块中相应的计算方法和相关性能指标信息，计算并存储在当前时间窗口 对应的性能指标值，并通过报告输出模块打印输出。