[发明专利]基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法有效

专利信息
申请号: 201610043862.1 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN105699882B 公开(公告)日: 2018-05-29
发明(设计)人: 杨成林;刘城;龙兵;刘震 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R31/316 分类号: G01R31/316
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平;陈靓靓
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 测点 振荡测试 相位差 模拟电路 特征曲线 振荡频率 构建 故障诊断 故障字典 电路 判定 模拟电路系统 故障覆盖率 相位差曲线 仿真测试 故障位置 故障元件 元件参数 数据点 求和 拟合 测试 诊断
【权利要求书】:

1.一种基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:在仿真软件中,向被测模拟电路添加反馈回路,构建振荡测试电路;

S2:依次对每个元件进行仿真,得到每个元件在各测点的特征曲线,仿真方法包括以下步骤:

S2.1:令仿真次数n=1,元件i的值γi=xi_min,xi_min表示元件i在故障情况下的参数最小值,其他元件的参数值在其正常容差范围内任意取值;参数最小值xi_min采用以下方法计算:根据元件的历史故障数据得到元件的故障容差范围为[αii],其中-1≤αi<0,βi≥0,参数最小值

S2.2:分别仿真测试预先选择的被测模拟电路中N个测点tj的振荡频率fi,j(n),j=1,2,…,N;

S2.3:分别仿真测试N个测点tj和预先选择的基准测点t0之间波形的相位差Δθi,j(n);

S2.4:令n=n+1,γi=γii,λi表示元件i参数值的变化步长;

S2.5:如果γi≥xi_max,xi_max表示元件i在故障情况下的参数最大值,采用以下公式计算:进入步骤S2.6,否则返回步骤S2.2;

S2.6:统计元件i每次仿真得到的各测点tj的振荡频率fi,j(n)和相位差Δθi,j(n),其中n=1,2,…,Ki,Ki表示元件i的仿真次数,对于每个测点tj,根据Ki对振荡频率和相位差数据拟合得到对应的频率-相位差曲线,将其作为元件i在测点tj的特征曲线si,j

S3:根据各个元件i在各个测点tj的特征曲线si,j建立M×N的二维矩阵S,将该二维矩阵S作为特征曲线故障字典;

S4:对实际的被测模拟电路添加与仿真相同的反馈回路,构建得到振荡测试电路,测试故障字典中的各个测点的振荡频率,以及各个测点与基准测点的相位差;计算各个测点的振荡频率和相位差构成的数据点与故障字典中该测点所对应的M条特征曲线的距离,令距离最小值对应的元件的判定标识di,j=1,其他元件的判定标识di,j=0,计算每个元件对应的判定值搜索M个判定值Di中的最大值,其对应的元件即为故障元件。

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