[发明专利]基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法有效
申请号: | 201610043862.1 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN105699882B | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
发明(设计)人: | 杨成林;刘城;龙兵;刘震 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 温利平;陈靓靓 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测点 振荡测试 相位差 模拟电路 特征曲线 振荡频率 构建 故障诊断 故障字典 电路 判定 模拟电路系统 故障覆盖率 相位差曲线 仿真测试 故障位置 故障元件 元件参数 数据点 求和 拟合 测试 诊断 | ||
1.一种基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:在仿真软件中,向被测模拟电路添加反馈回路,构建振荡测试电路;
S2:依次对每个元件进行仿真,得到每个元件在各测点的特征曲线,仿真方法包括以下步骤:
S2.1:令仿真次数n=1,元件i的值γ
S2.2:分别仿真测试预先选择的被测模拟电路中N个测点t
S2.3:分别仿真测试N个测点t
S2.4:令n=n+1,γ
S2.5:如果γ
S2.6:统计元件i每次仿真得到的各测点t
S3:根据各个元件i在各个测点t
S4:对实际的被测模拟电路添加与仿真相同的反馈回路,构建得到振荡测试电路,测试故障字典中的各个测点的振荡频率,以及各个测点与基准测点的相位差;计算各个测点的振荡频率和相位差构成的数据点与故障字典中该测点所对应的M条特征曲线的距离,令距离最小值对应的元件的判定标识d
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