[发明专利]基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法有效

专利信息
申请号: 201610043862.1 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN105699882B 公开(公告)日: 2018-05-29
发明(设计)人: 杨成林;刘城;龙兵;刘震 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R31/316 分类号: G01R31/316
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平;陈靓靓
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 测点 振荡测试 相位差 模拟电路 特征曲线 振荡频率 构建 故障诊断 故障字典 电路 判定 模拟电路系统 故障覆盖率 相位差曲线 仿真测试 故障位置 故障元件 元件参数 数据点 求和 拟合 测试 诊断
【说明书】:

发明公开了一种基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法,仿真构建振荡测试电路,依次对各个元件参数进行仿真,仿真测试每个测点的振荡频率和与基准测点的相位差,拟合得到频率‑相位差曲线作为该元件在该测点的特征曲线,构建特征曲线故障字典;当模拟电路故障时,构建相同振荡测试电路,测试相应测点的振荡频率以及与基准测点的相位差,计算各个测点的振荡频率和相位差构成的数据点与故障字典中该测点每条特征曲线的距离,令距离最小值对应的元件判定标识为1,其他元件为0,将每个元件对应的判定标识求和,和值最大值所对应的元件即为故障元件。本发明采用故障的频率、相位差来定位模拟电路系统故障位置,可以提高诊断精确度和故障覆盖率。

技术领域

本发明属于模拟电路诊断技术领域,更为具体地讲,涉及一种基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法。

背景技术

由于模拟和混合信号电路的可测试性设计减少了混合信号专用集成电路的生产成本,因此混合信号专用集成电路的可测性设计技术受到业界的高度关注。通常情况下,模拟电路的规格很宽,这将导致测试时间长、测试故障覆盖率差以及使用专用测试设备的必要性,所以模拟电路的可测性设计是一个具有挑战性的任务。现有的模拟电路可测性设计技术可分为两大类:第一类是增加内部节点的可控性和可观性的,而不是按比例增加的测试引脚数;第二类是在测试模式下改变模拟电路的,使电路能产生一个反应系统故障的测试信号。电路转换的目的是缓解测试问题,通过产生一个信号,经过处理便可确定电路的故障。在这种情况下,产生了一个新的模拟电路测试方法——振荡测试技术。

振荡测试(Oscillation-BasedTest)是一种把被测模拟电路通过添加运放等器件重构的诊断测试技术。当模拟电路处于测试模式中,采用器件与测试电路搭建,使测试电路转换成振荡电路。振荡电路的振荡频率可以表示成与其电路组成部分或者组成的重要成分的一个函数,通过振荡频率来进行测试故障。

振荡测试技术主要分为被测电路自改造和外加反馈回路两种方式。改造被测电路法需要在测试模式下增加或断开一些元件,通过电路设计过程中对元件的取舍,可以使附加电路的面积尽可能小,但缺点在于被断开的元件将无法被测试,而且需要设计人员对整个电路重新布局。外加反馈回路法保持了被测电路在结构上的独立,避免了重新布局的麻烦,是当前振荡测试技术的发展趋势。

对于外加反馈回路法,当被测模拟电路处于测试模式中时,被测模拟电路添加反馈回路形成自激振荡,正常电路的自激振荡会产生一个以振荡频率fosc为中心频率公带差。当被测模拟电路中如果有一个电子元器件发生故障,例如常见的短路、开路以及参数漂移等故障,由于元器件参数与振荡回路的振荡频率有关,因此将会导致测试电路的振荡频率产生偏移,通过对振荡频率的测量就可以检测系统中器件存在的故障。当模拟电路处在振荡测试的环境中,系统不需要额外添加外部激励,只需要构造反馈回路,使系统产生自激振荡,利用器件故障产生的振荡频率对正常振荡频率的偏离量,可以确定系统故障,从而可以达到较高的故障覆盖率。

但是,由于电路故障会对系统的多个特征产生影响,振荡测试只选取了频率进行讨论没有考虑其它特征,讨论形式比较单一,结果不能准确反映故障。而且振荡测试的结果只是得出故障的一个可检测范围,没能系统建模优化出电路诊断方法,无法充分利用后续经典的测点优选、诊断树构建系统诊断策略,诊断形式简单。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法,基于振荡测试技术获取测点的频率-相位差曲线,根据特征曲线来进行模拟电路的故障诊断,可以提高诊断精确度和故障覆盖率。

为实现上述发明目的,本发明基于振荡测试技术的模拟电路故障诊断方法,包括以下步骤:

S1:在仿真软件中,向被测模拟电路添加反馈回路,构建振荡测试电路;

S2:依次对每个元件进行仿真,得到每个元件在各测点的特征曲线,仿真方法包括以下步骤:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610043862.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top