[发明专利]用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检测装置及方法在审
申请号: | 201610046322.9 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN105607312A | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 简平超;欧昌东;梅林海;汪舟;董文忠 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子技术股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G09G3/00 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军 |
地址: | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 lcd 液晶 模组 缺陷 检测 光学 自动检测 装置 方法 | ||
1.一种用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检测装置,其特 征在于,包括集成于一个可编程逻辑器件的:
数据传输总线:用于接收流程控制命令和配置信息,输出处理 后的图像及检测结果;
中央控制处理单元:用于根据接收到的配置信息对相机和模组 进行配置,根据接收到的流程控制命令实现图像采集、图像处 理和图像传输功能的流程控制及调试;
PG模块:用于接收中央控制处理单元发送的测试图像切换命令和 数据传输总线发送的配置信息,根据配置信息中的PG配置参数生 成对应的图像时序信号,点亮模组,根据测试图像切换命令切换模组 测试画面;
图像采集模块:具有多个可与相机数据输出端口耦合的图像采集 端子,用于采集相机拍摄的原始图像;
图像处理模块:用于对图像采集模块采集的原始图像进行图像处 理及缺陷检测。
2.如权利要求1所述用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检 测装置,其特征在于:还包括集成于可编程逻辑器件的寄存器,所述 寄存器存储数据传输总线发送的配置信息和中央控制处理单元发送 的测试图像切换命令,所述配置信息包括PG配置参数和相机配置 参数。
3.如权利要求1所述用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检 测装置,其特征在于:还包括外部存储器和集成于可编程逻辑器件的 外部存储控制器,所述外部存储控制器用于将采集的原始图像和处理 完毕的图像读出或写入至外部存储器内进行存储。
4.如权利要求1所述用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检 测装置,其特征在于:还包括集成于可编程逻辑器件的串口控制器, 用于根据中央控制处理单元下发的相机配置参数配置相机,根据中央 控制处理单元下发的采图命令控制相机拍摄模组图像。
5.如权利要求1所述用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检 测装置,其特征在于:还包括集成于可编程逻辑器件的中断控制器, 所述中断控制器用于接收数据传输总线下发的流程控制命令,根据 流程控制命令生成不同的中断信号,控制中央控制处理单元进行 相应的处理。
6.如权利要求5所述用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检 测装置,其特征在于:当接收到的流程控制命令为测试命令时, 中断控制器向中央控制处理单元输出测试中断信号,中央控制处理单 元开始整个测试流程;
当接收到的流程控制命令为采图命令时,中断控制器向中央控 制处理单元输出采图中断信号,中央控制处理单元通过串口控制器 控制相机采集模组图像;
当接收到的流程控制命令为测试图像切换命令时,中断控制器 向中央控制处理单元输出测试图像切换中断信号,中央控制处理单元 通过寄存器向PG模块发送切图命令及切图所需参数。
7.如权利要求3所述用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检 测装置,其特征在于:还包括集成于可编程逻辑器件的图像读取模块, 所述图像读取模块用于读取外部存储器内存储的缺陷检测结果及处 理后的图像数据,并将缺陷检测结果及处理后的图像数据传输给 数据传输总线。
8.一种用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动检测方法,其特 征在于:接收PG配置参数和相机配置参数,根据PG配置参数点亮 模组,根据相机配置参数配置相机,控制相机拍摄模组图像并对所拍 摄的图像进行采集,对采集所得的原始图像进行图像处理及缺陷检测, 将缺陷检测结果及处理后的图像数据输出。
9.如权利要求8所述的用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动 检测方法,其特征在于:进行大尺寸LCD液晶模组缺陷检测时,采 用多个所述相机对该LCD液晶模组同时进行拍摄,并将拍摄所得的 原始图像采集后进行图像处理及缺陷检测,然后将缺陷检测结果及处 理后的图像数据输出。
10.如权利要求8所述的用于LCD液晶模组缺陷检测的光学自动 检测方法,其特征在于:所述图像处理包括相机畸变矫正、图像插 值与增强、二值化、背景抑制和噪声去除。
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