[发明专利]延时量自动校正的等效采样装置在审

专利信息
申请号: 201610048463.4 申请日: 2016-01-25
公开(公告)号: CN105487457A 公开(公告)日: 2016-04-13
发明(设计)人: 叶盛波;夏正欢;张群英;陈洁;阴和俊;方广有 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042;G01V3/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 延时 自动 校正 等效 采样 装置
【权利要求书】:

1.一种延时量自动校正的等效采样装置,其特征在于,包括:

FPGA芯片(10);

时钟源(20),用于产生第一时钟(CLK1);

第一扇出芯片(30),与时钟源(20)电性连接,用于由所述第一时 钟CLK1产生两路时钟-第二时钟(CLK2)和第三时钟(CLK3),其中, 第三时钟(CLK3)输入FPGA芯片(10);

可编程延时芯片(40),其输入端连接至第一扇出芯片(30)中第二 时钟(CLK2)的输出端,其控制端连接至FPGA芯片(10)的输出端, 用于利用该FPGA芯片(10)输出的延时量对输入的第二时钟(CLK2) 进行延时,产生并输出第四时钟(CLK4);

第二扇出芯片(50),与可编程延时芯片(40)的输出端电性连接, 用于由输入的第四时钟(CLK4)产生两路时钟-第五时钟(CLK5)和第六 时钟(CLK6),其中,第六时钟(CLK6)输入FPGA芯片(10);

模数转换芯片(60),其时钟输入端连接至第二扇出芯片(50)中第 五时钟(CLK5)的输出端,其信号输入端输入模拟信号,用于利用该第 五时钟(CLK5)作为采样时钟,对输入的模拟信号进行采样并输出;

其中,FPGA芯片(10)利用第三时钟(CLK3)作为工作时钟采样第 六时钟(CLK6),计算可编程延时芯片(40)的延时精度,并由该延时精 度和第一时钟(CLK1)的时间周期,生成延时量并传输至可编程延时芯 片(40)的控制端。

2.根据权利要求1所述的等效采样装置,其特征在于,所述FPGA 芯片(10)包括:D触发器(110)、第一计数器(111)、比较器(112)、 第一寄存器(Reg1)、第二寄存器(Reg2)、异或门(115)、判决器(116)、 第二计数器(117)、第三计数器(118)、DSP内核(120)以及延时控制 器(121),其中,各个部件的工作过程包括:

(1)所述D触发器(110)利用第三时钟(CLK3)作为采样时钟对 第六时钟(CLK6)的信号进行采样;

(2)第一计数器(111)累计D触发器的采样次数N1和采样值为1 的出现次数C,判断第一计数器的采样次数N1是否达到设定的采样次数上 限Nave,如否,则向延时控制器(121)提供第一使能信号(EN1);如是, 采样次数清零,向延时控制器(121)提供第二使能信号(EN2),向比较 器(112)提供第三使能信号(EN3);

(3)对于延时控制器(121):

其在收到第一使能信号后,令保持延时变量i不变,输出延时量 tdelay=itdc

其在收到第二使能信号后,另延时变量i=i+1,输出延时量为 tdelay=itdc

(4)比较器(112)被使能后,判断出现次数C与设定的参考值Cr的关系,如出现次数C大于参考值Cr时,比较器输出“1”;当出现次数C 小于参考值Cr时,比较器输出“0”;

(5)第一寄存器(Reg1)的值赋给第二寄存器(Reg2),在下一时钟 周期,将比较器的输出值赋给第一寄存器(Reg1);

(6)异或门(115)对两个寄存器的输出值进行异或操作;

(7)判决器根据异或操作的结果对第二计数器(117)、第三计数器 (118)进行操作:

a)如果异或结果为1,则使能第二计数器(117)计数的变量N2自加1;

c)如果异或结果为0,且第二计数器计数的变量N2不为0,使能 第三计数器(118)计数的变量N3自加1;

(8)第二计数器(117)判断变量N2是否等于3,如是,则提供第四 使能信号(EN4)至DSP内核;

(9)DSP内核在收到第四使能信号(EN4)后,计算出总延时次数 为N=N2+N3-1,利用总延时次数为N计算可编程延时芯片(40)的延时 分辨率为tdc,将延时分辨率tdc发送至延时控制器。

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