[发明专利]短距离传输万兆光模块的综合测试系统及应用方法

权利要求书

1.一种短距离传输万兆光模块的综合测试系统，其特征在于，包括：

第一评估板，其上设置有待测万兆光模块，所述待测万兆光模块的接收 端与一误码仪连接，输出端通过一光分路器分别连接至光功率计和第二评估 板，且所述光分路器与第二评估板之间还设置有一第一光衰减器，以构成待 测光模块发端的测试模块；

其中，所述第二评估板上设置有一标准万兆光模块，以通过一第二光衰 减器连接至第一评估板，进而通过所述第一评估板与误码仪连接，构成成待 测光模块收端的测试模块。

2.如权利要求1所述的短距离传输万兆光模块的综合测试系统，其特征 在于，所述第一评估板及第二评估板上分别设置有PC控制板。

3.一种应用如权利要求1-2任一项所述的综合测试系统的方法，其特征 在于，包括：

测试准备：将所述待测万兆光模块插入第一评估板中，所述第一评估板 中的PC控制板基于待测万兆模块的预定光功率进行相应计算，以将得到相应 的技术参数写入到待测万兆模块中；

发端测试：所述误码仪发送一电信号至待测万兆光模块，所述待测万兆 光模块基于其内的技术参数产生相应的第一光信号，以通过待测万兆光模块 与标准万兆光模块之间的通信效果以及光功率计上的读数，进而判断待测万 兆光模块的发端性能；

收端测试：所述标准万兆光模块发送一第二光信号至待测万兆光模块， 以通过所述待测万兆光模块进行光电转换后输出至误码仪，进而判断测万兆 光模块的收端性能。

4.如权利要求3所述的应用方法，其特征在于，在准备阶段，还包括对 测试系统中各器件进行的测试、点检并记录相关的参数。

5.如权利要求4所述的应用方法，其特征在于，所述测试包括对各链接 光路的插损参数测试，所述点检包括对各仪器与标准仪器测试时得到的差异 参数，所述参数包括插损参数、差异参数、及标准万兆光模块的性能参数。

6.如权利要求3所述的应用方法，其特征在于，所述技术参数包括：激 光器工作时的偏置电流Ibias；

光模块在传输“1”信号和“0”信号时所产生的交流电流Imod；

光模块的信号丢失阈值Los。

7.如权利要求6所述的应用方法，其特征在于，所述偏置电流Ibias基 于以下公式获得：

AOP＝SE*Ibias

其中，SE为激光器发光效率所对应的一常量，Ibias为偏置电流，AOP 为预定光功率。

8.如权利要求6所述的应用方法，其特征在于，所述交流电流Imod基 于以下公式获得：

ER＝10*log((Ibias+1/2*Imod)/(Ibias–1/2*Imod))

其中，ER为光模块的消光比，Ibias为基于预定光功率计算得出的偏置 电流。

9.如权利要求6所述的应用方法，其特征在于，在所述发端测试中，所 述光分路器基于从待测光模块处接收到的光信号，一路通过光纤传递给光功 率计，以读取一最终光功率值以确定待测万兆光模块发光功率是否正常；

另一路通过第一光衰减器连接至第二评估板上的标准万兆光模块，并通 过调整第一光衰减器的衰减大小，以使输出至标准万兆模块的光功率值接近 标准万兆光模块的灵敏度值，以通过标准万兆光模块能否收到光信号进而判 断待测万兆光模块的消光比是否在预定范围内。

10.如权利要求6所述的应用方法，其特征在于，在所述收端测试中， 所述标准万兆光模块在PC控制板的控制下发出第二光信号至待测万兆光模 块，并通过调整第二光衰减器的衰减大小，通过误码仪测试待测万兆光模块 的过载，灵敏度，信号丢失阈值。