[发明专利]短距离传输万兆光模块的综合测试系统及应用方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种在光模块生产或测试情况下使用的调试系统。更具体地 说，本发明涉及一种用在光模块生产或测试情况下的短距离传输万兆光模块 的综合测试系统。

背景技术

万兆光模块中的万兆SR(短距离)光模块，其指的是万兆850nm波长全 双工光收发模块，是目前短距离(300m以内)传输的主流光模块，其广泛应 用于企业级的以太网网络中。

对于目前的万兆SR光模块生产工艺来说，主要包括光模块的组装及后期 参数的测试，而测试又分为发端调试、发端测试、收端调试、收端测试四个 步骤，每个步骤都要采用独立的仪器以对相应的指标进行测试和控制，其主 要指标及所需仪器如下表所示：

对于当前主流的光模块制造商，仍采用上述传统的生产工艺来进行光模 块的生产，同时采用分四步的方法完成万兆SR产品的调测试，其发端测试、 调试时各器件工位搭建的连接示意图如图1所示，而收端测试、调试时各器 件工位搭建的连接示意图如图2所示。但是传统生产工艺虽被业界广泛采用， 工艺流程也较完善，但具有如下劣势：

1、工艺流程较多，生产效率不够理想；

2、使用了成本高昂的“光示波器”，生产线搭建成本较高；

3、多工位独立，所需仪器数量成倍增加，且各工位引入的仪器误差会产 生累积；

4、光示波器采集波形需要等待较长时间，限制了生产的高效运行。

发明内容

本发明的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷，并提供至少后面将说 明的优点。

本发明还有一个目的是提供一种短距离传输万兆光模块的综合测试系 统，其将传统的4个调测试步骤整合为1个，以待测模块与标准模块之间的 实际通讯效果作为判断依据，取代低效的眼图质量测试，工艺流程显著减少， 生产效率得到大大提高，且避免了误差的累积；同时因其采用标准模块配合 调测试，保证生产模块的产品性能参数良好。

本发明还有一个目的是通过应用综合测试系统的方法，提高测试的效率， 同时因其采用算法来实现光功率、消光比的调试，不必使用成本高昂的光示 波器，具有成本可控，稳定性好，效率提高的效果。

为了实现根据本发明的这些目的和其它优点，提供了一种短距离传输万 兆光模块的综合测试系统，包括：

第一评估板，其上设置有待测万兆光模块，所述待测万兆光模块的接收 端与一误码仪连接，输出端通过一光分路器分别连接至光功率计和第二评估 板，且所述光分路器与第二评估板之间还设置有一第一光衰减器，以构成待 测光模块发端的测试模块；

其中，所述第二评估板上设置有一标准万兆光模块，以通过一第二光衰 减器连接至第一评估板，进而通过所述第一评估板与误码仪连接，构成成待 测光模块收端的测试模块。

优选的是，其中，所述第一评估板及第二评估板上分别设置有PC控制板。

本发明的目的还可以进一步地由一种应用综合测试系统的方法实现，包 括：

测试准备：将所述待测万兆光模块插入第一评估板中，所述第一评估板 中的PC控制板基于待测万兆模块的预定光功率进行相应计算，以将得到相应 的技术参数写入到待测万兆模块中；

发端测试：所述误码仪发送一电信号至待测万兆光模块，所述待测万兆 光模块基于其内的技术参数产生相应的第一光信号，以通过待测万兆光模块 与标准万兆光模块之间的通信效果以及光功率计上的读数，进而判断待测万 兆光模块的发端性能；

收端测试：所述标准万兆光模块发送一第二光信号至待测万兆光模块， 以通过所述待测万兆光模块进行光电转换后输出至误码仪，进而判断测万兆 光模块的收端性能。

优选的是，其中，在准备阶段，还包括对测试系统中各器件进行的测试、 点检并记录相关的参数。

优选的是，其中，所述测试包括对各链接光路的插损参数测试，所述点 检包括对各仪器与标准仪器测试时得到的差异参数，所述参数包括插损参数、 差异参数、及标准万兆光模块的性能参数。

优选的是，其中，所述技术参数包括：激光器工作时的偏置电流Ibias；

光模块在传输“1”信号和“0”信号时所产生的交流电流Imod；

光模块的信号丢失阈值Los。

优选的是，其中，所述偏置电流Ibias基于以下公式获得：