[发明专利]改进型存储器错误检测方法及装置

权利要求书

1.一种存储器错误检测装置，在同一个芯片上包括控制装置、存储器单元阵列、页缓冲器、错误检测单元以及IO缓冲器，错误检测单元位于页缓冲器与IO缓冲器之间用于在控制装置的控制下对存储器单元阵列中的错误进行检测，其中，页缓冲器至少包括用于以将测试数据与预加载的参考数据进行比较的装置，错误检测单元至少包括预加载标志寄存器，用于记录芯片是否已经预加载了标准参考数据。

2.如权利要求1的存储器错误检测装置，其中，控制装置包括电压发生器、解码器、控制器，在控制器的控制下解码器将来自电压发生器的信号转变为存储器单元阵列的字线控制信号；优选地，控制装置的控制器进一步包括用于存储错误检测单元检测结果的错误检测单元寄存器，以及用于接收指令或测试指令的指令/测试接口。

3.如权利要求1的存储器错误检测装置，其中，错误检测单元还进一步包括组合逻辑运算模块、加法器、累加器、触发器、选择器、寄存器阵列，寄存器包括错误码计数寄存器、错误位计数寄存器、故障阈值寄存器、通过/故障状态寄存器、通过/故障标记寄存器、包含错误位地址的其他错误信息寄存器、以及预加载标志寄存器。

4.如权利要求3的存储器错误检测装置，其中，页缓冲器中执行比较的结果数据存入错误码计数寄存器，错误码计数寄存器与复位信号输入累加器与触发器构成反馈回路，反馈回路的输出一路连接至比较器、在比较器处与来自故障阈值寄存器的阈值作比较，比较的结果经过选择器选择之后存入通过/故障状态寄存器，反馈回路的输出另一路连接至错误位计数寄存器阵列。

5.如权利要求3的存储器错误检测装置，其中，页缓冲器分为S个区段，错误位计数寄存器阵列包括对应的S个错误位计数寄存器，S大于等于1。

6.一种存储器错误检测方法，采用如权利要求1至5任一项所述的存储器错误检测装置，在控制装置的控制下通过位于页缓冲器与IO缓冲器之间的错误检测单元对存储器单元阵列中的错误进行检测，其中，所述方法至少包括步骤：

a、通过IO缓冲器装载测试数据并编程到存储器单元阵列；

可选的b1、从IO缓冲器向页缓冲器预加载参考数据；

b2、从存储单元读取测试数据至页缓冲器；

b3、在页缓冲器中比较测试数据与预加载参考数据并对比较的结果计数；

c、通过读取控制器中的寄存器的数值，直接获得错误检测结果。

7.如权利要求6的存储器错误检测方法，其中，步骤b1具体包括：判定是否存在错误检测指令，如果否则空载等待，如果是则判定预加载标记是否为真，如果为假则预加载参考数据并对预加载标记进行置位，如果为真则继续执行步骤b2。

8.如权利要求6的存储器错误检测方法，其中，对于已经预加载过参考数据的芯片，切换测试数据图样时，只需将预加载标记寄存器清零，即可加载新的参考数据执行检测流程。

9.如权利要求6的存储器错误检测方法，其中，步骤b3具体包括：

b31、在页缓冲器中将测试数据与参考数据进行比较；

b32、从页缓冲器向错误检测装置读取比较结果；

b33、对比较的结果进行计数处理，具体的包括：对错误位计数，列地址递增，以及判定列地址是否超过当前区段，如果否则返回至步骤b32，如果是则前进至后续步骤。

10.如权利要求9的存储器错误检测方法，其中，步骤b33之后进一步包括：判定错误是否大于阈值，如果是则设置故障标记，如果否则设置通过标记；存储故障信息；计数器复位；区段递增；判定是否超过最后区段，如果是则结束，如果否则返回至步骤b32。