[发明专利]采样电阻校正电路、电流检测电路及驱动电路

说明书

一种采样电阻校正电路、电流检测电路及驱动电路，采样电阻校正电路包括：第一预设铜箔，用作采样电阻；分压电路，包括第二预设铜箔，其中，所述第一预设铜箔和第二预设铜箔布设于电路板上控制单元，与所述第二预设铜箔连接，所述控制单元检测所述分压电路输出的分压电压，根据所述分压电压得到所述待校正参数，并以所述待校正参数计算并校正预存储的所述第一预设铜箔的电阻值。采用低成本的布线铜箔做电流采样也可以做到较高的采样精度，并利用整块电路板作为散热，使得采样铜箔发热量低。

技术领域

本发明涉及电流采样技术，特别是涉及一种采样电阻校正电路、电流检测电路及驱动电路。

背景技术

传统的电流采样电路，如果要做到较高精度，一般都是采样无感电阻来进行采样。例如变频空调控制电路中的PFC(Power Factor Correction，功率因数校正电路)电路，通过检查无感电阻上的电压来计算电流，从而控制PFC的开关从而使直流母线电压处于动态稳定状态。

用无感电阻做电流采样可以做到较高的采样精度，但无感电阻成本较高，且无感电阻发热较大，在布局上必须考虑对周围器件的温度影响。

发明内容

本发明目的在于提供一种采样电阻校正电路，旨在解决无感电阻成本较高，且无感电阻发热较大的问题。

本发明提供了一种采样电阻校正电路，包括：

第一预设铜箔，连接于主电路中，用作该主电路的采样电阻；

分压电路，包括第二预设铜箔，其中，所述第一预设铜箔和第二预设铜箔布设于电路板上，两者的长度、宽度和厚度中有一个相同的待校正参数；

控制单元，与所述第二预设铜箔连接，预存储所述第一预设铜箔和第二预设铜箔的长度、宽度和厚度中除所述待校正参数外的参数，所述控制单元检测所述分压电路输出的分压电压，根据所述分压电压得到所述第二预设铜箔的电阻值，并根据所述第二预设铜箔的电阻值得到所述待校正参数，并以所述待校正参数计算并校正预存储的所述第一预设铜箔的电阻值。

本发明还提供了一种电流检测电路，与主电路连接，包括上述的采样电阻校正电路。

本发明还提供了一种驱动电路，包括主电路、驱动芯片和检测电路，还包括上述的采样电阻校正电路，其中：

所述检测电路两检测端分别与所述第一预设铜箔两端相连，输出端与所述控制单元连接，所述检测电路向所述控制单元输入检测信号，所述驱动芯片连接在所述主电路与所述控制单元之间；

所述控制单元根据所述检测信号及校正后的所述第一预设铜箔的电阻值，发出控制信号控制所述驱动单元驱动所述主电路改变工作状态。

上述的采样电阻校正电路、电流检测电路及驱动电路采用低成本的布线铜箔做电流采样也可以做到较高的采样精度，并利用整块电路板作为散热，使得采样铜箔发热量低，主电路或系统可以利用校正后的采样电阻的电阻值进行运行，使得电路设备的可靠性、稳定性高。

附图说明

图1为本发明较佳实施例中采样电阻校正电路的结构示意图；

图2为本发明较佳实施例中驱动电路的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1，本发明较佳实施例中采样电阻校正电路，包括第一预设铜箔10、分压电路20及控制单元30，其中，分压电路20包括第二预设铜箔21。第一预设铜箔10和第二预设铜箔21布设于电路板上，其中可以是同一块电路板上，也可以是不同的电路板上。控制单元30为控制芯片，如单片机、DSP芯片等。