[发明专利]电路板的智能测试方法和智能测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，特别涉及一种电路板的智能测试方法和智能测试系统。

背景技术

在电路板的生产制造过程中，需要对电子设备的电路板进行独立的模块测试。

由于需要对应电路板上的每一个模块采用独立的测试程序，因此，在现有的测试系统中，通常配备与电路板的待测试模块数量相同的测试仪，并组成流水线。将电路板一次通过这一流水线上的每台测试仪测试，即可完成对电路板的独立模块测试。

然而，并不是每个模块的测试时间都相同，在测试的过程中，若位于后部的测试仪测试的所需时间较长，则容易导致电路板在流水线上形成积压。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电路板的智能测试方法和智能测试系统，采用了该智能测试方法的智能测试系统能够防止电路板在测试过程中发生积压，提高测试效率。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种电路板的智能测试方法，包含如下步骤：

预先获取电路板的M个待测模块所需的测试时间，M为自然数；

为每个待测模块分别配置一个测试组，每个测试组包含至少一台测试仪， 测试仪用于测试本测试组对应的待测模块；其中，测试组包含的测试仪的数量与对应的待测模块所需的测试时间呈正比；

在需要对电路板进行测试时，将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试。

本发明的实施方式还提供了一种智能测试系统，用于测试电路板，包括用于抓取电路板的机械手、用于输送电路板的送料装置，用于送出电路板的出料装置，用于收集未通过测试的电路板的不良品收集装置，以及若干台个环绕机械手的测试仪；

电路板上有M个待测模块，M为自然数；所有测试仪被分为M组测试组，各测试组分别与电路板的各个待测模块一一对应，测试仪用于测试本测试组对应的待测模块；其中，测试组包含的测试仪的数量与对应的待测模块所需的测试时间呈正比；

机械手用于抓取送料装置送达的电路板，并依次交付给属于不同测试组的测试仪测试；机械手还用于将未通过测试的电路板移送至不良品收集装置，将通过测试的电路板移送至出料装置。

相对于现有技术而言，本发明的实施方式利用测试组为单位对电路板的各模块进行测量，相比以测试仪为单位来设置流水线而言具有更好的适应性。本发明的实施方式在调整了各测试组中测试仪的数量后，可以分配更多的测试仪给需要测试时间更长的模块，以此调和了有限的设备成本和更高测试效率之间的矛盾，更大程度地利用了时间成本，提高了测试系统的测试效率。

作为优选，本发明的实施方式提供了一种理想状态下的测试仪的配比方式：在为每个待测模块分别配置一个测试组的步骤中，配置的各测试组包含的测试仪数量之比，等于各测试组对应的待测模块所需的测试时间之比。如此一来，可以基本实现避免电路板的积压。当然，在实际使用时，测试组的数量可以不完全遵循该比例，并在近似原则的前提下取整。

另外，作为优选，在将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试的步骤中，包含以下子步骤：每次从测试仪获取到电路板时，判断该测试仪对该待测模块的测试结果是否合格；

如果测试结果为合格，则继续测试待测电路板的下一个待测模块；如果测试结果为不合格，则将待测电路板移送至不良品收集装置。

通过设置不良品排除步骤，在测出不良品时及时进行排除，可以避免无谓的测试所浪费的时间。

进一步地，作为优选，将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试的步骤中，还包含以下子步骤：根据预设的M个待测模块的优先级，在未测试的待测模块中，选取优先级最高的待测模块；将待测电路板移送至选取的待测模块所对应的测试组内的一台测试仪。

通过设置优先级，可以对同一电路板的待测模块的测试先后顺序作出调整，可以令不良品更加及时地得到排除，避免耗费在不良品电路板中良好模块上所耗费的测试时间。