[发明专利]一种用于电子元器件的参数测试系统以及测试方法有效
申请号: | 201610086886.5 | 申请日: | 2016-02-16 |
公开(公告)号: | CN105717393B | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 赵浩华;高志齐;孙伯乐;刘瑜;王恒斌 | 申请(专利权)人: | 常州同惠电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所(普通合伙) 32211 | 代理人: | 肖兴江 |
地址: | 213000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 电子元器件 参数 测试 系统 以及 方法 | ||
1.一种用于电子元器件的参数测试系统,其特征在于:包括控制电路,用于对各个模块进行控制和进行数据的计算分析;控制电路连接有第一交直流产生功放电路,用于提供交直流测试信号;第一交直流产生功放电路与第一测试端连接,第一测试端与被测电子元器件的一端连接,还包括与控制电路连接的第二交直流产生功放电路,第二交直流产生功放电路与可调电阻单元连接,可调电阻单元连接有第四测试端,第四测试端与被测电子元器件的另一端连接,第三测试端亦与被测电子元器件的另一端连接,第三测试端连接有信号转换电路连接,信号转换电路与控制电路连接;上述测试系统的测试过程包括以下步骤:本测试过程中的符号、公式和计算都是向量的符号和运算公式;
Z为被测电子元器件的参数;
R为可调电阻单元的参数;
步骤1:控制电路控制第一交直流产生功放电路和第二交直流产生功放电路产生测试信号V0和V1;
步骤2:计算V0经过被测电子元器件产生的电流IS,计算V1经过可调电阻单元产生的电流Ir;
步骤3:计算经过第三测试端的电流Ip,Ip=Ir+Is;
步骤4:Ip经过信号转换电路输送给控制电路,控制电路控制第二交直流产生功放电路调整V1信号,使Ip=0;即Ip=Ir+Is=0;
将步骤2中的IS和Ir代入,得到:到推算得
2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的参数测试系统,其特征在于:还包括第一电压监测电路,第一电压监测电路与第二测试端连接,第二测试端连接在被测电子元器件的一端,还包括第二电压监测电路,第二电压监测电路连接在第二交直流产生功放电路的输出端,所述的第一电压监测电路和第二电压监测电路与第三测试端连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的参数测试系统,其特征在于:所述的第一交直流产生功放电路与第二交直流产生功放电路的构成相同,所述第一交直流产生功放电路包括与控制电路连接的交流信号源以及直流信号源,交流信号源和直流信号源与功放电路连接,功放电路与第一测试端连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的参数测试系统,其特征在于:所述的信号转换电路包括电压电流转换电路,电压电流转换电路连接有模拟信号处理电路,模拟信号处理电路连接有模数转换电路,模数转换电路与控制电路连接。
5.根据权利要求2所述的一种用于电子元器件的参数测试系统,其特征在于:所述的第一电压监测电路和第二电压监测电路的构成相同,所述的第一电压监测电路包括与第二测试端和第三测试端连接的差分运放电路,差分运放电路连接有模拟信号处理电路,模拟信号处理电路连接有模数转换电路,模数转换电路与控制电路连接。
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