[发明专利]一种用于电子元器件的参数测试系统以及测试方法

说明书

本发明属于电子测量技术领域，特别设计一种用于对电子元器件参数进行测试的测试系统和测试方法。一种用于电子元器件的参数测试系统，其特征在于：包括控制电路，用于对各个模块进行控制和进行数据的计算分析；控制电路连接有第一交直流产生功放电路，用于提供交直流测试信号；第一交直流产生功放电路与第一测试端连接，第一测试端与被测电子元器件的一端连接，还包括与控制电路连接的第二交直流产生功放电路，第二交直流产生功放电路与可调电阻单元连接，可调电阻单元连接有第四测试端，第四测试端与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端亦与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端连接有信号转换电路连接，信号转换电路与控制电路连接。

技术领域

本发明属于电子测量技术领域，特别设计一种用于对电子元器件参数进行测试的测试系统和测试方法。

背景技术

随着科技发展，电子产品越来越多的应用到生活中各个方面，对电子产品的质量要求越来越高，电子元器件作为构成电子产品的基本元件，其重要性不言而喻，对电子元器件的性能指标的把控直接影响到整个电子产品的质量，所以对电子元器件的出厂测试和进货检验已经必不可少。本发明实现的电子元件参数测试分析方法主要用于基本电子元器件(电容，电感或者电阻)或者未知元器件网络的的参数测试分析，可以用于各种电子元器件的性能参数指标的测试分析和标定。

现有对电子元器件参数测试分析的方法主要是靠运放虚短虚断特性实现的自动平衡电桥。测量的精度主要靠平衡的运放来决定，测量频率比较低的时候，运放的输入电容造成的影响比较小，如果测量频率比较高的时候，输入电容就会对测量信号造成漏电流，严重影响测量精度。而且实际应用的运放毕竟不是理想的，有输入偏置电压，输入电流等非理想参数，会对测试精度有比较大的影响，所以在保证0.05％精度的前提下，一般传统的运放自动平衡电桥的测试频率最高只能达到300kHz。随着测试频率越来越高，测试精度会越来越差。

发明内容

本发明针对现有技术中测量存在的误差，设计了一种用于中高频电子元器件的参数测试系统以及分析测试的方法，使测试频率提高到了110MHz,并且也保 证了测试精度，测试精度也能达到0.05％，满足了电子元器件在中高频分析测试的要求。

本发明的技术方案如下：

一种用于电子元器件的参数测试系统，其特征在于：包括控制电路，用于对各个模块进行控制和进行数据的计算分析；控制电路连接有第一交直流产生功放电路，用于提供交直流测试信号；第一交直流产生功放电路与第一测试端连接，第一测试端与被测电子元器件的一端连接，还包括与控制电路连接的第二交直流产生功放电路，第二交直流产生功放电路与可调电阻单元连接，可调电阻单元连接有第四测试端，第四测试端与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端亦与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端连接有信号转换电路连接，信号转换电路与控制电路连接。

还包括第一电压监测电路，第一电压监测电路与第二测试端连接，第二测试端连接在被测电子元器件的一端，还包括第二电压监测电路，第二电压监测电路连接在第二交直流产生功放电路的输出端，所述的第一电压监测电路和第二电压监测电路与第三测试端连接。

所述的第一交直流产生功放电路与第二交直流产生功放电路的构成相同，所述第一交直流产生功放电路包括与控制电路连接的交流信号源以及直流信号源，交流信号源和直流信号源与功放电路连接，功放电路与第一测试端连接。

所述的信号转换电路包括电压电流转换电路，电压电流转换电路连接有模拟信号处理电路，模拟信号处理电路连接有模数转换电路，模数转换电路与控制电路连接。

所述的第一电压监测电路和第二电压监测电路的构成相同，所述的第一电 压监测电路包括与第二测试端和第三测试端连接的差分运放电路，差分运放电路连接有模拟信号处理电路，模拟信号处理电路连接有模数转换电路，模数转换电路与控制电路连接。