[发明专利]样本收集组件及其制作方法

权利要求书

1.一种样本收集组件，其特征在于，包括：

本体，具有可封闭且可供光线通过的样本容纳空间；以及

可移除遮光件，配置于所述本体上，并且位于所述样本容纳空间之外，用以遮蔽通过所述样本容纳空间的至少部分光线。

2.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述可移除遮光件包括片材，附加于所述本体上，并且覆盖至少一部分的所述样本容纳空间。

3.根据权利要求2所述的样本收集组件，其特征在于，所述本体包括对应于所述样本容纳空间的凹陷，用以形成暴露所述样本容纳空间的观测窗，且所述片材密封所述凹陷，以在所述凹陷内形成具有特定气压的密闭空间。

4.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述可移除遮光件包括材料层，覆盖所述本体表面以及至少一部分的所述样本容纳空间。

5.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述可移除遮光件包括与所述本体同时制作的结构件，且所述结构件藉由连接部连接于所述本体。

6.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述本体包括对应于所述样本容纳空间的凹陷，用以形成暴露所述样本容纳空间的观测窗，且所述可移除遮光件包括材料层，位于所述观测窗的底面并且延伸至所述样本容纳空间与所述本体之间的部分接面。

7.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述本体包括

第一基板，具有相对的第一表面以及第二表面；

第二基板，具有相对的第三表面以及第四表面，其中所述第一基板与所述第二基板相互堆栈，且所述第二表面面向所述第三表面；以及

间隔件，配置于所述第二表面与所述第三表面之间，用以连接并固定所述第一基板与所述第二基板，以在所述第一基板与所述第二基板之间形成所述样本容纳空间。

8.根据权利要求7所述的样本收集组件，其特征在于，所述本体还包括：

第一薄膜，位于所述第一基板的所述第二表面；以及

第二薄膜，位于所述第二基板的所述第三表面，且所述第一薄膜、所述第二薄膜以及所述间隔件共同包围所述样本容纳空间。

9.根据权利要求8所述的样本收集组件，其特征在于，所述第一基板包括位于所述第一表面的第一凹陷，且所述第一凹陷的底部连接所述第一薄膜，用以形成暴露所述样本容纳空间的第一观测窗，所述遮光件配置于所述第一观测窗，以遮蔽通过所述样本容纳空间的至少部分光线。

10.根据权利要求9所述的样本收集组件，其特征在于，所述第二基板包括位于所述第四表面的第二凹陷，且所述第二凹陷的底部连接所述第二薄膜，用以形成暴露所述样本容纳空间的第二观测窗。

11.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述可移除遮光件包括滤光材料或光阀组件。

12.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述可移除遮光件的材质是金、铜、或铝等导体，或是硅、塑料、陶瓷、或高分子材料等半导体或非导体。

13.根据权利要求1所述的样本收集组件，其特征在于，所述滤光材料用以滤除波长介于100纳米至1毫米之间的光线。

14.一种样本收集组件的制作方法，其特征在于，包括：

接合第一基板至第二基板，并且在所述第一基板与所述第二基板之间形成间隔物，用以连接并固定所述第一基板与所述第二基板，以在所述第一基板与所述第二基板之间形成可封闭且可供光线通过的样本容纳空间；以及

形成可移除遮光件于所述第一基板上，所述可移除遮光件对应于所述样本容纳空间，用以遮蔽通过所述样本容纳空间的至少部分光线。

15.根据权利要求14所述的样本收集组件的制作方法，其特征在于，形成所述可移除遮光件的方法包括附加片材于所述第一基板上，所述片材覆盖至少一部分的所述样本容纳空间。

16.根据权利要求15所述的样本收集组件的制作方法，其特征在于，还包括在所述第一基板的第一表面形成对应于所述样本容纳空间的凹陷，用以形成暴露所述样本容纳空间的观测窗，且所述片材密封所述凹陷，以在所述凹陷内形成具有特定气压的密闭空间。