[发明专利]基于精细调相的建立保持时间测试系统和方法在审
申请号: | 201610100844.2 | 申请日: | 2016-02-24 |
公开(公告)号: | CN105759195A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
发明(设计)人: | 王健;肖爰龙;来金梅 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 精细 调相 建立 保持 时间 测试 系统 方法 | ||
1.基于精细调相的建立保持时间测试系统,其特征在于,包括:精细调相模块、时钟网络、待测电路模块、仲裁电路模块和控制电路模块;其中,所述精细调相模块用于产生相位差可调的两个信号即信号1和信号2;两个信号通过时钟网络接到芯片中任意待测电路模块;待测电路模块的输出响应接到仲裁电路模块中;仲裁电路模块对输出响应进行处理,以确定测试的结果;控制电路模块用于控制精细调相模块、待测电路模块、仲裁电路模块的协调工作。
2.根据权利要求1所述的基于精细调相的建立保持时间测试系统,其特征在于,通过锁相环的精细调相功能,产生两个相位差可调的时钟信号;通过时钟网络,将两个时钟信号分别接到待测模块的待测信号端和时钟端;不断地改变两个时钟信号的相位差,测出待测信号的建立保持时间。
3.根据权利要求1或2所述的基于精细调相的建立保持时间测试系统,其特征在于,所述建立保持时间测试,分为:
(1)“1”建立时间;
(2)“1”保持时间;
(3)“0”建立时间;
(4)“0”保持时间。
4.根据权利要求1或2所述的基于精细调相的建立保持时间测试系统,其特征在于,所述的精细调相模块利用芯片中已有的延迟锁相环、相位锁相环、数字时钟管理单元实现,或者用一个具有精确调相功能的PLL到芯片中作为测试IP核。
5.根据权利要求1或2所述的基于精细调相的建立保持时间测试系统,其特征在于,所述待测电路模块是FPGA中的可编程逻辑块、数字信号处理器或块存储器。
6.根据权利要求1或2所述的基于精细调相的建立保持时间测试系统,其特征在于,所述精细调相模块采用芯片中的数字时钟管理单元实现;时钟信号先输入到第一个时钟管理单元DCM_FX_1,将第一个时钟管理单元DCM_FX_1输出的倍频信号输入第二个时钟管理单元DCM_FX_2的输入端中,把倍频信号经过时钟网络同时传到下面的两个时钟管理单元DCM_PS_1和DCM_PS_2的输入端;两个时钟管理单元DCM_PS_1和DCM_PS_2将输出反馈到各自的FB端,使得输出时钟与输入时钟保持一个锁定的相位,并通过控制两个时钟管理单元DCM_PS_1和DCM_PS_2的控制信号在FPGA配置完成之后改变这个相位;第三个时钟管理单元DCM_PS_1将相位可调的第一信号接到待测模块的待测信号上;第四时钟管理单元DCM_PS_2产生信号2,接到待测模块的时钟端;第四时钟管理单元DCM_PS_2调节信号2的相位延迟,以对信号1和信号2所走路径的不同造成的skew进行补偿。
7.一种基于权利要求1-6所述测试系统的建立保持时间测试方法,其特征在于具体步骤为:
首先,通过锁相环的精细调相功能,产生两个相位差可调的时钟信号;
然后,通过时钟网络,将两个时钟信号分别接到待测模块的待测信号端和时钟端;
最后,通过不断地改变两个时钟信号的相位差,测出待测信号的建立保持时间。
8.根据权利要求7所述的建立保持时间测试方法,其特征在于,建立保持时间包括数据端D的建立保持时间、同步使能端CE信号的建立保持时间、同步复位置位SR信号的建立保持时间。
9.根据权利要求7所述的建立保持时间测试方法,其特征在于,对于一个D触发器的数据口D的建立保持时间测试,其中:
“1”建立时间的测试步骤如下:
(1)初始时,D和CLK的相位对齐,此时控制电路的状态机处于IDLE状态;
(2)将D的相位调成比CLK提前1/4个相位,控制电路的状态机在IniPS和IniPS_Adj之间来回切换;在IniPS状态,控制电路比较当前相位是否与期望相位相同,即D提前1/4个相位,如果不是,则进入IniPS_Adj状态,移动一个最小相移单位,返回IniPS,直到移至期望相位;当移至期望相位时,触发器稳定的采集到数据“1”;
(3)控制DCM_PS_1,使信号1的相位向右移,控制电路的状态机在ChkPS和ChkPS_Adj之间来回切换;在ChkPS状态中,当D未进入亚稳态时,此时没有时序违背,跳到ChkPS_Adj状态中,进行一个单位的相移,回到ChkPS状态;当D进入到亚稳态区间时,由于建立时间不满足,触发器无法稳定的采集到1,输出至少会出现一次“1”和“0”的跳变,此时测到的就是“1”的建立时间,状态机跳到RtnPS;
(4)将信号1的相位移到初始0相位,等待下一次测试,其中RtnPS状态时,比较相移是否复位,RtnPS_Adj进行一个单位的相移;相位复位成功后,状态机跳回到IDLE状态;
“1”保持时间时的测试步骤如下:
(1)初始时,D和CLK的相位对齐;
(2)将D的相位调成比CLK提前1/4个相位,此时,触发器稳定的采集到数据“1”;
(3)控制DCM_PS_1,使信号1的相位向左移,当D进入到亚稳态区间时,由于保持时间不满足,触发器无法稳定的采集到1,输出至少会出现一次“1”和“0”的跳变,此时测到的就是“1”的保持时间;
(4)将信号1的相位移到初始0相位,等待下一次测试;
“0”建立时间时的测试步骤如下:
(1)初始时,D和CLK的相位对齐;
(2)将D的相位调成比CLK推迟1/4个相位,此时,触发器稳定的采集到数据“0”;
(3)控制DCM_PS_1,使信号1的相位向右移,当D进入到亚稳态区间时,由于建立时间不满足,触发器无法稳定的采集到0,输出至少会出现一次“0”和“1”的跳变,此时测到的就是“0”的建立时间;
(4)将信号1的相位移到初始0相位,等待下一次测试;
“0”保持时间时的测试步骤如下:
(1)初始时,D和CLK的相位对齐;
(2)将D的相位调成比CLK推迟1/4个相位,此时,触发器稳定的采集到数据“0”;
(3)控制DCM_PS_1,使信号1的相位向左移,当D进入到亚稳态区间时,由于保持时间不满足,触发器无法稳定的采集到0,输出至少会出现一次“0”和“1”的跳变,此时测到的就是“0”的保持时间;
(4)将信号1的相位移到初始0相位,等待下一次测试。
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