[发明专利]场致离子发射体的制备方法在审

专利信息
申请号: 201610104405.9 申请日: 2016-02-25
公开(公告)号: CN105609394A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 刘宇明;张凯;李蔓;赵春晴;刘向鹏 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: H01J9/02 分类号: H01J9/02;F03H1/00;B82Y40/00;C23C14/24;C23C14/35
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地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 离子 发射 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种场致离子发射体制备方法,包括如下步骤:

在碳纳米管阵列表面,通过热蒸镀或者电子束蒸发、磁控溅射方法在碳 纳米管阵列表面镀上一层低熔点金属铟(In)或镓(Ga),作为场致发射的 发射体。

2.如权利要求1所述的场致离子发射体制备方法,其中,所述碳纳米管 阵列通过CVD法制备,在基底上生长出取向排列的碳纳米管阵列。

3.如权利要求2所述的场致离子发射体制备方法,其中,所述基底为硅 或金属。

4.如权利要求2所述的场致离子发射体制备方法,其中,所述金属为铁 或铜。

5.如权利要求1所述的场致离子发射体制备方法,其中,将碳纳米管阵 列放入真空镀膜设备中,将块状金属铟或者镓放入蒸发器皿中,在真空条件 下,利用电阻加热方法或者电子束加热方法,将金属铟或者镓加热融化,并 蒸发,直至需要的镀膜厚度。

6.如权利要求1所述的场致离子发射体制备方法,其中,通过控制镀膜 的厚度获得不同曲率半径的纳米线,作为场致离子的发射体。

7.如权利要求1所述的场致离子发射体制备方法,其中,碳纳米管阵列 中碳纳米管尖端曲率半径与碳纳米管直径基本一致,为20nm左右。

8.如权利要求1所述的场致离子发射体制备方法,其中,通过控制加热 温度,调节镀膜速率,镀膜速率为0.1nm/s至5nm/s,直至达到需要的厚度, 厚度在100nm以下。

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