[发明专利]一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法在审

专利信息
申请号: 201610108592.8 申请日: 2016-02-26
公开(公告)号: CN105594446A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 穆春华;鲁守平;刘霞;孙验玲;李文才;张慧;杨君成;刘治先 申请(专利权)人: 山东省农业科学院玉米研究所
主分类号: A01G1/00 分类号: A01G1/00
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 杨树云
地址: 250100 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 玉米 杂产种 种植 密度 响应 方法
【权利要求书】:

1.一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法,其特征在于,具体步骤包括:

(1)以种植地的某点为圆心作同心圆,同心圆的圆周为行,相邻两行之间的间距相同, 由所述圆心引出若干条辐射半径,辐射半径为束,任意相邻辐射半径之间的夹角相同,所述 辐射半径是指由圆心引出的线段;将所述同心圆划分成若干个面积相同的扇形区域,每个扇 形区域为一个小区,不同的小区种植不同的杂交种玉米,每个小区内种植相同的杂交种玉米, 具体是在行与束的交叉点上种植玉米;

(2)种植后,进行田间管理工作;

(3)以行为单位进行收获并测产,同时,记录田间抗性表型,测定植株、果穗参数;

(4)设定第i行的种植密度为Pi,单位为株/亩,1≤i≤I,I为总行数;相邻辐射半径之间 的夹角为a,每个扇形区域的夹角为A,相邻两行之间的间距为h,单位为米,第i行的行半 径为ri,单位为米,第i行的行长为di,单位为米,第i行的株距为bi,单位为米,第i行的 种植面积为si,ri、a、A、h已知,分别求取di、bi、si、Pi,求取公式如式(Ⅰ)-式(Ⅳ) 所示:

di=2πri×(A/360)(Ⅰ)

bi=di/(A/a)(Ⅱ)

si=π((r+h/2)2-(r-h/2)2)×(A/360)(Ⅲ)

Pi=666.7/(si/(A/a))(Ⅳ);

确定种植密度Pi

(5)根据测产结果,参考田间抗性表型及植株、果穗参数,获取田间抗性表型在不同 种植密度下的变化趋势,确定玉米杂交种适宜的种植密度范围。推测杂交种及其亲本各性状 的耐密潜力,为新品种或新材料的选育提供参考。

2.根据权利要求1所述的一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法,其特征在于,相 邻两行之间的间距为0.5-0.7米;任意相邻辐射半径之间的夹角为0.5-2.0°;将所述同心圆划 分成4-16个面积相同的扇形区域。

3.根据权利要求1或2所述的一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法,其特征在于, 所述相邻两行之间的间距为0.6667米;任意相邻辐射半径之间的夹角为1°;将所述同心圆划 分成8个面积相同的扇形区域。

4.根据权利要求1或2所述的一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法,其特征在于, 所述步骤(3)中,所述田间抗性表型包括:植株抗病性、双穗株率、空穗株率,所述植株、 果穗参数包括:倒伏/折率、株高、穗长、秃尖长度。

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