[发明专利]一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法在审

专利信息
申请号: 201610108592.8 申请日: 2016-02-26
公开(公告)号: CN105594446A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 穆春华;鲁守平;刘霞;孙验玲;李文才;张慧;杨君成;刘治先 申请(专利权)人: 山东省农业科学院玉米研究所
主分类号: A01G1/00 分类号: A01G1/00
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 杨树云
地址: 250100 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 玉米 杂产种 种植 密度 响应 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法,属于玉米栽培的技术领域。

背景技术

常规的玉米产量、抗性等对种植密度响应的测试试验一般采取小区测试法进行。小区面 积通常固定:0.01亩大小,每小区2行,5米行长,0.667米行距,并通过增减每行种植株数 来调整种植密度。设置密度为3000、3500、4000、4500、5000、5500、6000株/亩,相临密 度之间的差异为500株/亩。

很多因素影响试验的测试结果,这些因素包括肥力状况、管理均衡性、株高、株型等, 特别是对产量进行测试时,株高是一个必须考虑的因素。植株太高易倒伏,太低虽然抗倒性 相对提高,但产量受到一定限制;同时,矮株小区势必受到相临高株小区的影响,在光照方 面具有明显的劣势。

2009年,张宇发表论文《辽宁省不同株型玉米杂交种适宜密度和区试设置的研究》,采 用二因素裂区试验设计,选用生产上大面积推广的三个不同株型的代表性品种,在5个试点, 每试点3次重复,每品种设置6个密度,测试了不同试点各品种的产量、株高、穗位等多个 参数对密度的响应。该试验方案存在如下问题:为消除株高(连玉16株高3.25米、郑单958 株高2.85米)等因素造成的材料间边际效应的影响,试验设计每材料每重复种植8行,但仅 收获中间4行进行测产。这虽然很好地降低了杂交种之间的影响,但是同时也降低了土地的 使用效率。而在其它同类试验中,因每小区种植2-4行,造成的株高对临区造成的影响不可 避免。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供了一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法;

本发明的技术方案为:

一种测试玉米杂产种对种植密度响应的方法,具体步骤包括:

(1)以种植地的某点为圆心作同心圆,同心圆的圆周为行,相邻两行之间的间距相同, 由所述圆心引出若干条辐射半径,辐射半径为束,任意相邻辐射半径之间的夹角相同,所述 辐射半径是指由圆心引出的线段;将所述同心圆划分成若干个面积相同的扇形区域,每个扇 形区域为一个小区,不同的小区种植不同的杂交种玉米,每个小区内种植相同的杂交种玉米, 具体是在行与束的交叉点上种植玉米;

(2)种植后,进行田间管理工作;

(3)以行为单位进行收获并测产,同时,记录田间抗性表型,测定植株、果穗参数;

(4)设定第i行的种植密度为Pi,单位为株/亩,1≤i≤I,I为总行数;相邻辐射半径之间的夹角为每个扇形区域的夹角为A,相邻两行之间的间距为h,单位为米,第i行的行半径为ri,单位为米,第i行的行长为di,单位为米,第i行的株距为bi,单位为米,第i行的种植面积为si,ri、A、h已知,分别求取di、bi、si、Pi,求取公式如式(Ⅰ)-式(Ⅳ)所示:

di=2πri×(A/360)(Ⅰ)

si=π((r+h/2)2-(r-h/2)2)×(A/360)(Ⅲ)

确定种植密度Pi

(5)根据测产结果,参考田间抗性表型及植株、果穗参数,获取田间抗性表型在不同 种植密度下的变化趋势,确定玉米杂交种适宜的种植密度范围。推测杂交种及其亲本各性状 的耐密潜力,为新品种或新材料的选育提供参考。

根据本发明优选的,相邻两行之间的间距为0.5-0.7米;任意相邻辐射半径之间的夹角为 0.5-2.0°;将所述同心圆划分成4-16个面积相同的扇形区域。

根据本发明优选的,所述相邻两行之间的间距为0.6667米;任意相邻辐射半径之间的夹 角为1°;将所述同心圆划分成8个面积相同的扇形区域。

根据本发明优选的,所述步骤(3)中,所述田间抗性表型包括:植株抗病性、双穗株率、 空穗株率,所述植株、果穗参数包括:倒伏/折率、株高、穗长、秃尖长度。

本发明的有益效果为:

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