[发明专利]一种用于大面积放射源均匀性测量的系统与方法

说明书

本发明属于放射性测量技术领域，公开了一种用于大面积放射源均匀性测量的系统与方法。该系统包括均匀性测量仪、多孔屏蔽体及固定支架；所述多孔屏蔽体上设置有若干个用于放射性测量的通孔，多孔屏蔽体的厚度大于被测放射性核素的射程，外观尺寸不小于待测大面积放射源的活性区面积；半导体探测器的探头与多孔屏蔽体上设置的通孔的大小相适应，可以对α或β核素测量；固定支架位于多孔屏蔽体上方，其中心位置处设置有一个孔道，该孔道的四周设置有支撑挡板。该方法是利用该系统并选择合适的测量时间对大面源进行测量。该系统与方法具有测量效率高、适用性好、成本低且能够用于面积大至1000cm²的放射源均匀性测量的有益效果。

技术领域

本发明属于放射性测量技术领域，具体涉及一种用于大面积放射源均匀性测量的系统与方法。

背景技术

现有的用于大面积放射源均匀性测量的系统和方法有以下两种：

一种是检定规程《JJG 788-92α、β标准平面源》中给出的对于150cm²大面积源的均匀性测量推荐方法，其是采用孔半径为1.36cm、面积为6cm²的带窗模板共三块，每块模板只开一个孔，三块模板的开孔位置不同，最终测量的孔位在活性区的对角线上均匀分布。测量前，将平面源置于表面发射率标准装置的探测器(流气式正比计数器)内，其活性区上覆盖带窗模板，通过测量窗口发射的粒子计数率，以标准偏差法计算得到大面积源的均匀性。规程中也说明可用经过校准的闪烁计数器代替流气式正比计数器进行测量，除要求保持模板窗口相对闪烁计数器探测窗口的相同几何条件外，未给出其他具体描述。

第二种是陈志才等描述了一种医用敷贴式测量放射源均匀性的装置，探测器采用侧面开窗的正比计数器，与测量支架放置在一个大屏蔽箱内，正比计数器置于大屏蔽箱的箱底上，测量支架的面板下，窗口向上。测量时，放射源放于测量支架的面板上或放于限束板上，面板的居中位置向下有个准直器。为适应不同的要求，备有2种不同高度的测量支架，另配有三块限束铝板，居中开一个限束孔。使用时，可按需要选择带有合适限束孔的限束板，并将其覆盖在支架的面板上。具体事例给出的是活性区平面尺寸为20mm×20mm的β源的均匀性测量结果，测量时源面向下，每测一个点，源在铝限束板上移动一个限束孔直径距离，每个源共测16个点。

对于第一种方法，其缺陷在于在用流气式正比计数器进行测量时，由于一次只能测量一个孔，除需要更换带窗模板外，每次换位测量都需要开关面板，更换带窗模板，同时流气较长时间以去除探测器内进入的负电性气体，直至计数率稳定平衡后开始正式测量，一般约需(20～30)min测量一个位置，按检定规程要求测量9个位置将耗时(3～4.5)h，且浪费大量氩甲烷气体，费时、费力且成本较高。这还只是活性区仅为150cm²的大面积源，如果换作1000cm²的大面积源，由于开孔面积不可能等比放大，势必增加孔位数量，测量时间、耗气量、成本等将成倍增加。

对于第二方法，由于正比计数器和测量支架置于一个大屏蔽箱内，当时报道只作为皮肤敷贴器β源的测量，后来未见报道。该法表述不够具体，未给出整体测量示意图，测量支架和限束孔大小也未给出只说明具体事例是测量了活性尺寸为20mm×20mm的β源，推断应该是适合测量较小面积的放射源,但其测量时孔位的具体排列方式和如何定位(以保证孔与孔间未重叠)也未报道。如果用于测量活性面积高达1000cm²的大面积源，将使整个屏蔽体的尺寸变得庞大，操作更为复杂。

因此，需要寻求一种测量效率高且能够适用面积大至1000cm²的放射源均匀性测量的系统及方法。

发明内容

(一)发明目的

根据现有技术所存在的问题，本发明提供了一种测量效率高、适用性好、成本低且能够用于面积大至1000cm²的放射源均匀性测量的系统及方法。

(二)技术方案