[发明专利]用于求取到套准传感器的分析处理范围的方法

权利要求书

1.一种用于求取到套准传感器(4)的分析处理范围的方法，所述套准传感器用于检测在加工承印材料的机器中的承印材料(1)上的套准标记(2)，其中，所述套准传感器(4)与计算机(5)连接，

其特征在于，

在第一步骤中，所述套准传感器(4)测量承印材料(1)的棱边(3)，并且，依据该棱边(3)将所述分析处理范围设置到起始值，然后，在至少一个第二步骤中，将所述分析处理范围设置到如下增大的值：该值增大直至所述套准传感器(4)识别到所述套准标记(2)的第一棱边为止。

2.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

在识别到所述承印材料(1)上的所述套准标记(2)的一棱边时，将所述分析处理范围的值作为终值存储在所述计算机(5)中并且因此将所述分析处理范围存储。

3.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述分析处理范围的拓宽是通过所述计算机(5)以多个步骤得以实现。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其特征在于，

将所述分析处理范围拓宽了所述加工承印材料的机器的拖曳误差。

5.根据权利要求4所述的方法，

其特征在于，

所考虑的拖曳误差的值小于所述套准标记(2)的两个棱边相互间距离的一半。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其特征在于，

在每次接通所述加工承印材料的机器时以及在每个新任务时，在所述计算机(5)中生成如下误差信号：所述误差信号启动由所述计算机(5)控制地将所述套准传感器(4)的分析处理范围进行读取。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其特征在于，

在每个新任务时，由属于该任务的印刷预备数据中求取到所述套准标记(2)与所述承印材料(1)的棱边(3)的额定距离，并且，在所述计算机(5)中将该额定距离与已确定的分析处理范围进行比较。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其特征在于，

将针对所述分析处理范围所求取到的值与待执行的各任务相关地存储在所述计算机(5)中并且能够在重复任务时调取。

9.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其特征在于，

首先，求取到所述分析处理范围，其方式是，检测到所述套准标记(2)的第一棱边，然后，该分析处理范围被所述计算机(5)隐藏，并且，重新进行测量，并且，将所述分析处理范围作为第二分析处理范围一直增大，直至所述套准标记(2)的下一棱边被识别到为止。

10.根据权利要求9所述的方法，

其特征在于，

将所述第二分析处理范围减去所述承印材料(1)的棱边(3)与所述套准标记(2)的第一棱边之间的距离之后与由所述印刷预备数据所包含的套准标记(2)宽度进行比较，并且，在通过采用所述套准传感器(4)在所述承印材料(1)上进行测量所求取到的套准标记(2)宽度与由所述印刷预备数据中读出的套准标记(2)宽度之间存在偏差的情况下，生成用于控制所述加工承印材料的机器的信号或者用于输出至使用者的信号。