[发明专利]NAND FLASH闪存中状态码的验证方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610127363.0 申请日: 2016-03-07
公开(公告)号: CN105654989B 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 刘会娟 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司
主分类号: G11C16/10 分类号: G11C16/10;G11C16/34
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬;邓猛烈
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: nand flash 闪存 状态 验证 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种NAND FLASH闪存中状态码的验证方法,其特征在于,包括:

根据状态码占位数量M确定多个候选状态码,所述候选状态码为二进制数据,状态码占位数量M用于表示状态码的数据位数,状态码占位数量M能够表示的二进制数据即为候选状态码;

从所述多个候选状态码中查找含有的置零位数量与状态序号对应的目标状态码,确定置零位数量为M的候选状态码为状态序号为1对应的目标状态码,除擦除状态以外所述状态序号越大相应目标状态码含有的置零位数量越小;

将原状态码替换为所述目标状态码;

对所述目标状态码进行编程验证,由小到大对多个状态的状态码进行编程验证时,序号较小的状态码含有的置零位数较多,且每个状态码被识别后相应的目标状态码会被排除。

2.根据权利要求1所述的NAND FLASH闪存中状态码的验证方法,其特征在于,所述根据状态码占位数量确定多个候选状态码,包括:

将以状态码占位数量为自变量、以2为底数的幂指函数的取值确定为候选状态码数量;

生成所述候选状态码数量的候选状态码。

3.根据权利要求1或2所述的NAND FLASH闪存中状态码的验证方法,其特征在于,所述从所述多个候选状态码中查找含有的置零位数量与状态序号对应的目标状态码,包括:

逐次从所述多个候选状态码中查找置零位数量为所述状态码占位数量-N的至少一个候选状态码作为目标状态码,所述N由0逐次递增至所述状态码占位数量-1。

4.根据权利要求3所述的NAND FLASH闪存中状态码的验证方法,其特征在于,当所述状态码占位数量为3时,候选状态码数量为8;

相应的,所述从所述多个候选状态码中查找含有的置零位数量与状态序号对应的目标状态码,包括:

将状态1的状态码确定为擦除状态对应的状态码;

从剩余7个候选状态码中查找置零位数量为三的1个候选状态码作为状态1的状态码;

从剩余6个候选状态码中查找置零位数量为二的3个候选状态码分别作为状态2、状态3和状态4的状态码;

将剩余3个置零位数量为一的候选状态码分别作为状态5、状态6和状态7的状态码。

5.根据权利要求3所述的NAND FLASH闪存中状态码的验证方法,其特征在于,所述对所述目标状态码进行编程验证,包括:

获取状态序号对应的目标状态码;

对所述目标状态码进行程序验证。

6.一种NAND FLASH闪存中状态码的验证装置,其特征在于,包括:

候选状态码确定单元,用于根据状态码占位数量M确定多个候选状态码,所述候选状态码为二进制数据,状态码占位数量M用于表示状态码的数据位数,状态码占位数量M能够表示的二进制数据即为候选状态码;

目标状态码查找单元,用于从所述候选状态码确定单元确定的所述多个候选状态码中查找含有的置零位数量与状态序号对应的目标状态码,确定置零位数量为M的候选状态码为状态序号为1对应的目标状态码,除擦除状态以外所述状态序号越大相应目标状态码含有的置零位数量越小;

替换单元,用于将原状态码替换为所述目标状态码查找单元查找到的所述目标状态码;

验证单元,用于对所述替换单元替换的所述目标状态码进行编程验证,由小到大对多个状态的状态码进行编程验证时,序号较小的状态码含有的置零位数较多,且每个状态码被识别后相应的目标状态码会被排除。

7.根据权利要求6所述的NAND FLASH闪存中状态码的验证装置,其特征在于,所述候选状态码确定单元具体用于:

将以状态码占位数量为自变量、以2为底数的幂指函数的取值确定为候选状态码数量;

生成所述候选状态码数量的候选状态码。

8.根据权利要求6或7所述的NAND FLASH闪存中状态码的验证装置,其特征在于,所述目标状态码查找单元具体用于:

逐次从所述多个候选状态码中查找置零位数量为所述状态码占位数量-N的至少一个候选状态码作为目标状态码,所述N由0逐次递增至所述状态码占位数量-1。

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