[发明专利]嵌入式闪存的检测电路和微调方法、嵌入式闪存

权利要求书

1.一种嵌入式闪存的检测电路，适于检测嵌入式闪存在编程状态下的编程电压或在擦除状态下的擦除电压，其特征在于，所述嵌入式闪存的检测电路包括：

测试通道选择电路，与固定测试点耦接，所述测试通道选择电路输入有使能信号；

电压比较电路，与所述测试通道选择电路耦接；

其中，当所述使能信号为第一逻辑电平时，所述固定测试点经由所述测试通道选择电路对所述编程电压或擦除电压进行检测；

当所述使能信号为不同于所述第一逻辑电平的第二逻辑电平时，所述固定测试点经由所述测试通道选择电路耦接至所述电压比较电路，所述电压比较电路将所述编程电压或擦除电压与所述固定测试点上的参考电压进行比较以产生检测结果；

所述检测结果适于传输至微调电路，所述微调电路适于根据所述检测结果对所述编程电压或擦除电压进行调节以达到目标电压。

2.如权利要求1所述的嵌入式闪存的检测电路，其特征在于，所述电压比较电路包括：

分压电路，适于对所述编程电压进行分压以输出编程分压电压，或者对所述擦除电压进行分压以输出擦除分压电压；

比较器，所述比较器的第一输入端输入有所述参考电压，所述比较器的第二输入端输入有所述编程分压电压或所述擦除分压电压，并由所述比较器输出比较结果。

3.如权利要求2所述的嵌入式闪存的检测电路，其特征在于，所述分压电路包括：多个分压支路和耦接所述多个分压支路的分压选择电路，其中，所述分压选择电路在不同的控制信号的作用下，所述分压电路具有不同的分压比。

4.如权利要求3所述的嵌入式闪存的检测电路，其特征在于，所述分压支路包括：第一电阻和第二电阻，其中，所述第一电阻的第一端输入有所述编程电压或擦除电压，所述第一电阻的第二端连接所述第二电阻的第一端，并输出所述编程分压电压或擦除分压电压，所述第二电阻的第二端接地。

5.如权利要求2所述的嵌入式闪存的检测电路，其特征在于，所述电压比较电路还包括：电平转换电路，所述电平转换电路的输出端连接所述电压比较电路的输出端，适于对所述比较器所输出的比较结果进行变换。

6.如权利要求5所述的嵌入式闪存的检测电路，其特征在于，所述电平转换电路包括偶数个级联的反相器。

7.一种嵌入式闪存，包括权利要求1至6任一项所述的嵌入式闪存的检测电路，以及与所述检测电路耦接的微调电路。

8.一种基于权利要求1至6任一项所述的嵌入式闪存的检测电路的嵌入式闪存的微调方法，其特征在于，包括：

控制所述使能信号为所述第二逻辑电平；

控制所述嵌入式闪存进入编程状态或擦除状态；

检测所述电压比较电路的检测结果，若所述检测结果指示所述编程电压或所述擦除电压未达到所述目标电压，对所述编程电压或擦除电压进行微调，直到所述检测结果指示所述编程电压或擦除电压达到所述目标电压。